[發(fā)明專利]熔絲電路及其控制方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010571962.4 | 申請日: | 2010-12-03 |
| 公開(公告)號: | CN102110477A | 公開(公告)日: | 2011-06-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 車鎮(zhèn)燁;李在真 | 申請(專利權(quán))人: | 海力士半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號: | G11C17/16 | 分類號: | G11C17/16;G11C17/18 |
| 代理公司: | 北京弘權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 郭放;黃啟行 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電路 及其 控制 方法 | ||
相關(guān)申請的交叉引用
本申請要求2009年12月28日在韓國知識產(chǎn)權(quán)局提交的韓國申請No.10-2009-0131779的優(yōu)先權(quán),其全部內(nèi)容通過引用合并在本文中,如同全部列出一樣。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體裝置,更具體而言涉及半導(dǎo)體裝置的熔絲電路。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體裝置包括能夠用來修復(fù)在半導(dǎo)體裝置中出現(xiàn)的缺陷的各種熔絲選項。使用熔絲選項之一,諸如存儲裝置的半導(dǎo)體裝置中的修復(fù)存儲單元能夠取代半導(dǎo)體裝置中儲存有數(shù)據(jù)的有缺陷的存儲單元。
熔絲電路中使用各種類型的熔絲,且熔絲電路可以是例如熔絲選項。這些熔絲中的一種類型為可以起反熔絲的作用的電熔絲。一般而言,電熔絲是指一種具有高電阻以防止電流流通并且在被施加具有等于或高于預(yù)定電平的電平的電壓以允許電流流通時發(fā)生短路的熔絲。因此,包括電熔絲的熔絲電路能夠通過施加具有等于或高于預(yù)定電平的電平的電壓,例如編程電壓,來執(zhí)行熔絲編程。
圖1是示意性地說明典型的熔絲電路的結(jié)構(gòu)的框圖。參見圖1,熔絲電路包括地址輸入緩沖器10、多個熔絲組FS1至FSn以及環(huán)形計數(shù)器20。地址輸入緩沖器10被配置為產(chǎn)生地址信號ADD<1:n>,所述地址信號ADD<1:n>可以表示關(guān)于是否對熔絲組FS1至FSn中所提供的熔絲進(jìn)行編程的信息。
多個熔絲組FS1至FSn被配置為響應(yīng)于地址信號ADD<1:n>、測試模式信號TM和從環(huán)形計數(shù)器20輸出的熔絲編程信號Q1至Qn來產(chǎn)生熔絲信號FUSEOUT1至FUSEOUTn。如果其中一些熔絲被編程,則多個熔絲組FS1至FSn中的相應(yīng)的熔絲組利用編程電壓VPP將熔絲信號FUSEOUT1至FUSEOUTn的電平反相。
環(huán)形計數(shù)器20被配置為接收時鐘信號CLK和復(fù)位信號RST,產(chǎn)生熔絲編程信號Q1至Qn用于實際執(zhí)行熔絲編程,并向熔絲組FS1至FSn提供熔絲編程信號Q1至Qn。因此,如果測試模式信號TM在測試模式下被使能時,則熔絲電路能夠響應(yīng)于熔絲編程信號Q1至Qn和地址信號ADD<1:n>,對熔絲組FS1至FSn中所提供的熔絲進(jìn)行編程。
圖2是說明圖1所示的熔絲電路的操作的時序圖。下面將參照圖1和圖2描述典型的熔絲電路的操作。當(dāng)測試模式信號TM在測試模式下被使能且復(fù)位信號RST被禁止時,環(huán)形計數(shù)器20產(chǎn)生被順序使能的熔絲編程信號Q1至Qn。環(huán)形計數(shù)器20可以包括串聯(lián)連接的觸發(fā)器,在這種情況下環(huán)形計數(shù)器20可以產(chǎn)生順序地在各自的預(yù)定時間間隔期間被使能的熔絲編程信號Q1至Qn,如圖2所示。
如果熔絲編程信號Q1被使能,則可以利用編程電壓VPP對熔絲組FS1的熔絲編程,如果熔絲編程信號Q2被使能,則可以利用編程電壓VPP對熔絲組FS2的熔絲編程。如果熔絲組FS1的熔絲或熔絲組FS2的熔絲被編程,對應(yīng)的熔絲信號FUSEOUT1或FUSEOUT2的電平相應(yīng)地改變。
如上參照圖1和圖2所述的,可以順序地執(zhí)行對多個熔絲組FS1至FS2的熔絲編程。然而,當(dāng)持續(xù)執(zhí)行熔絲編程并且頻繁使用編程電壓VPP時,編程電壓VPP的電平會變化。因此,當(dāng)利用被降低了預(yù)定電平的編程電壓VPP執(zhí)行熔絲編程時,會出現(xiàn)錯誤編程的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本文描述了一種通過檢測編程電壓的電平來穩(wěn)定地執(zhí)行熔絲編程的熔絲電路。
根據(jù)本發(fā)明的一個方面,一種熔絲電路包括:多個熔絲組,被配置為響應(yīng)于熔絲編程信號來執(zhí)行熔絲編程并產(chǎn)生熔絲信號;以及熔絲控制單元,被配置為根據(jù)編程電壓的電平來產(chǎn)生熔絲編程信號。
根據(jù)本發(fā)明的另一個方面,一種熔絲電路包括:內(nèi)部時鐘發(fā)生部,被配置為檢測編程電壓的電平并從時鐘信號產(chǎn)生內(nèi)部時鐘信號;熔絲編程信號發(fā)生部,被配置為響應(yīng)于內(nèi)部時鐘信號和檢測信號來產(chǎn)生熔絲編程信號;以及多個熔絲組,被配置為響應(yīng)于熔絲編程信號來執(zhí)行熔絲編程并產(chǎn)生熔絲信號。
根據(jù)本發(fā)明的又一個方面,一種利用編程電壓對半導(dǎo)體裝置中的第一熔絲組和第二熔絲組的熔絲進(jìn)行編程的控制方法,包括以下步驟:對第一熔絲組的熔絲進(jìn)行編程;檢測編程電壓的電平;以及根據(jù)檢測到的編程電壓的電平,來對第二熔絲組的熔絲進(jìn)行編程。
附圖說明
結(jié)合附圖來描述本發(fā)明的特征、方面和實施例,在附圖中:
圖1是示意性地說明典型的熔絲電路的結(jié)構(gòu)的框圖;
圖2是說明圖1的熔絲電路的操作的時序圖;
圖3是示意性地說明根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的熔絲電路的結(jié)構(gòu)的框圖;
圖4是說明圖3所示的熔絲控制單元的結(jié)構(gòu)的電路圖;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于海力士半導(dǎo)體有限公司,未經(jīng)海力士半導(dǎo)體有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201010571962.4/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





