[發(fā)明專(zhuān)利]一種用于ZnO壓敏電阻性能評(píng)價(jià)的無(wú)損檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010566246.7
• 申請(qǐng)日: 2010-11-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102103166A
• 公開(kāi)（公告）日: 2011-06-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李建英;趙學(xué)童;李盛濤
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 西安交通大學(xué)
• 主分類(lèi)號(hào): G01R27/02
• 分類(lèi)號(hào): G01R27/02;G01R27/26
• 代理公司: 西安通大專(zhuān)利代理有限責(zé)任公司 61200
• 代理人: 陸萬(wàn)壽

1.一種用于ZnO壓敏電阻性能評(píng)價(jià)的無(wú)損檢測(cè)方法，其特征在于，

1)對(duì)ZnO壓敏電阻試樣測(cè)量的溫度范圍為-160℃～250℃，從低溫到高溫以10℃或20℃為一個(gè)間隔對(duì)試樣進(jìn)行一次測(cè)量；在同一個(gè)溫度下的頻率測(cè)量范圍為0.1Hz～10⁶Hz，通過(guò)寬頻介電譜測(cè)試系統(tǒng)以1.5倍的比例從高頻到低頻進(jìn)行介電性能測(cè)量；

2)選擇參數(shù)對(duì)ZnO壓敏電阻性能進(jìn)行表征，這些參數(shù)分別為介電損耗、復(fù)模量、復(fù)阻抗和電導(dǎo)率；

3)通過(guò)測(cè)得數(shù)據(jù)以介電損耗tanδ為縱坐標(biāo)，頻率為橫坐標(biāo)，得到介電損耗值在不同溫度下隨頻率的變化關(guān)系，檢測(cè)到60～80℃以上有新的損耗峰移入平面，再取不同溫度下的損耗峰值，按Arrhenius公式計(jì)算出各個(gè)峰值對(duì)應(yīng)的活化能值，其中低溫高頻和低溫低頻峰分別對(duì)應(yīng)的值為0.20～0.30ev，0.30ev～0.40ev，高溫峰對(duì)應(yīng)值0.65～0.75ev；

4)通過(guò)測(cè)得數(shù)據(jù)以復(fù)模量M”為縱坐標(biāo)，頻率為橫坐標(biāo)，得到復(fù)模量值在不同溫度下隨頻率的變化關(guān)系，再取不同溫度下的復(fù)模量峰值，按Arrhenius公式計(jì)算出各個(gè)峰值對(duì)應(yīng)的活化能值，其中低溫高頻和低溫低頻峰分別對(duì)應(yīng)值0.20～0.30ev，0.30ev～0.40ev，高溫高頻和高溫低頻峰分別對(duì)應(yīng)值為0.65～0.75ev，0.80ev～0.95ev；

5)通過(guò)測(cè)得數(shù)據(jù)以復(fù)阻抗Z”為縱坐標(biāo)，頻率為橫坐標(biāo)，得到復(fù)阻抗值在不同溫度下隨頻率的變化關(guān)系，再取不同溫度下的復(fù)阻抗峰值，按Arrhenius公式計(jì)算出該峰值對(duì)應(yīng)的活化能值為0.80～0.95ev；

6)通過(guò)測(cè)得數(shù)據(jù)以電導(dǎo)率σ’為縱坐標(biāo)，頻率為橫坐標(biāo)，得到電導(dǎo)率值在不同溫度下隨頻率的變化關(guān)系，再取不同溫度下0.1～10Hz處電導(dǎo)率值，按Arrhenius公式計(jì)算出類(lèi)直流電導(dǎo)對(duì)應(yīng)的活化能值0.80～0.95ev；

7)對(duì)表征ZnO壓敏電阻性能的不同參數(shù)進(jìn)行比較，首先，檢測(cè)到損耗譜中存在三個(gè)松弛峰，其中高溫峰對(duì)應(yīng)活化能為0.65～0.75ev，其次，在模量譜中檢測(cè)到四個(gè)松弛峰，其中復(fù)模量高溫低頻峰和復(fù)阻抗松弛峰對(duì)應(yīng)的活化能值與類(lèi)直流電導(dǎo)活化能值大小一致，在0.80～0.95ev。