[發明專利]一種補償振蕩天平測量濃度的方法

無效

• 申請號: 201010521148.1
• 申請日: 2010-10-27
• 公開（公告）號: CN102221509A
• 公開（公告）日: 2011-10-19
• 發明（設計）人: 李虹杰;李金平;陳建新
• 申請（專利權）人: 武漢市天虹儀表有限責任公司
• 主分類號: G01N5/00
• 分類號: G01N5/00;G01G23/48
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種補償振蕩天平測量濃度的方法，其特征在于，包括以下步驟：設置抽氣時長為t，以下步驟均在t時長內完成：

步驟1，由采樣膜增重測量器測量出采樣膜的增重ΔP；

步驟2，由工礦流量測量器測出t時長內的采樣膜前工礦流量Q₁以及采樣膜后工礦流量Q₂；

步驟3，由壓力傳感器測出t時長內采樣膜前飽和水蒸氣氣壓P₁以及采樣膜后飽和水蒸氣氣壓P₂；

步驟4，由濕度傳感器測出t時長內采樣膜前的相對濕度U₁以及采樣膜后的相對濕度U₂；

步驟5，由溫度傳感器測出t時長內采樣膜前的現場溫度T₁以及采樣膜后的現場溫度T₂；

步驟6，由水汽測量器分別獲取t時長內濕氣攜帶的水的質量ΔW以及氣體帶走的水的質量ΔD；

步驟7，由揚塵測量器獲取t時長內揚塵的增重ΔM。

2.根據權利要求1所述的一種補償振蕩天平測量濃度的方法，其特征在于，所述的步驟6中，獲取濕氣攜帶的水的質量ΔW的方法是基于公式：

ΔW=2.166×Q1×∫0tP1×U1T1d(t).]]>

3.根據權利要求1所述的一種補償振蕩天平測量濃度的方法，其特征在于，獲取氣體帶走的水的質量ΔD是基于公式：

ΔD=2.166×Q2×∫0tP2×U2T2d(t).]]>

4.根據權利要求1所述的一種補償振蕩天平測量濃度的方法，其特征在于，所述的增重ΔM的獲取是基于公式：

ΔM＝ΔP-(ΔW-ΔD)。