[發(fā)明專(zhuān)利]在互電容偵測(cè)中分析位置的方法與裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010502686.6 | 申請(qǐng)日: | 2010-10-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102043553A | 公開(kāi)(公告)日: | 2011-05-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張欽富;李政翰;唐啟豪;何順隆 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 禾瑞亞科技股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06F3/044 | 分類(lèi)號(hào): | G06F3/044 |
| 代理公司: | 北京中原華和知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11019 | 代理人: | 壽寧;張華輝 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)灣臺(tái)北市*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電容 偵測(cè) 分析 位置 方法 裝置 | ||
1.一種在互電容偵測(cè)中分析位置的方法,其特征在于其包括以下步驟:
由多個(gè)感測(cè)器取得相應(yīng)于至少一外部物件接近或觸碰一第一信號(hào)源的一觸敏資訊;
當(dāng)該觸敏資訊包括分別相應(yīng)于一第一特性與相應(yīng)于一第二特性的第一部分與第二部分,并且該第一特性與該第二特性相反時(shí),由該第二特性的部分分析是否存在具有相應(yīng)于一第三特性的一第三部分,其中該第三部分相應(yīng)于該至少一外部物件接近或觸碰該第一信號(hào)源;以及
由該第三部分分析出該第三部分中相應(yīng)于該至少一外部物件的接近或觸碰的位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的在互電容偵測(cè)中分析位置的方法,其特征在于其中所述的第一特性與該第二特性之一為正值,并且該第一特性與該第二特性的另一個(gè)為負(fù)值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的在互電容偵測(cè)中分析位置的方法,其特征在于其中所述的第一部分、該第二部分與該第三部分為至少一單一或連續(xù)多個(gè)正值的集合與至少一單一或連續(xù)多個(gè)負(fù)值的集合的交替組合。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的在互電容偵測(cè)中分析位置的方法,其特征在于其中所述的第一特性與該第二特性之一為起始于該至少一單一或連續(xù)多個(gè)正值的集合,并且該第一特性與該第二特性的另一個(gè)為起始于該至少一單一或連續(xù)多個(gè)負(fù)值的集合。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的在互電容偵測(cè)中分析位置的方法,其特征在于其中所述的第一部分相應(yīng)于至少一接地導(dǎo)體接近或觸碰該第一信號(hào)源,并且該第三部分相應(yīng)于至少一提供一交流信號(hào)的第二信號(hào)源接近或觸碰該第一信號(hào)源。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的在互電容偵測(cè)中分析位置的方法,其特征在于其中所述的第三特性為不同于該第二特性的頻率。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的在互電容偵測(cè)中分析位置的方法,其特征在于其中所述的第三特性為該第三部分包括至少一值大于或小于一門(mén)檻限值,并且第二部分中第三部分以外的部分不包括任何值大于或小于該門(mén)檻限值。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的在互電容偵測(cè)中分析位置的方法,其特征在于其中所述的第三部分的位置分析包括:
依據(jù)該第一門(mén)檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第一起始位置;
依據(jù)該第二門(mén)檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第二起始位置;
分別由每一個(gè)第一起始位置朝一第一方向的一第一范圍進(jìn)行一第一零交會(huì)處位置分析;以及
分別由每一個(gè)第二起始位置朝一第二方向的一第二范圍進(jìn)行該第一零交會(huì)處位置分析,其中該第一零交會(huì)處位置分析所分析出來(lái)的零交會(huì)處為相應(yīng)該第三特性的位置,并且該第一范圍與該第二范圍不包括該第一部分與該第二部分中第三部分以外的部分。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的在互電容偵測(cè)中分析位置的方法,其特征在于更包括:
由該第一部分分析出相應(yīng)于該至少一外部物件接近或觸碰該第一信號(hào)源的位置。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的在互電容偵測(cè)中分析位置的方法,其特征在于其中所述的第一部分的位置分析包括:
依據(jù)該第一門(mén)檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第三起始位置;
依據(jù)該第二門(mén)檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第四起始位置;
分別由每一個(gè)第三起始位置朝該第二方向的一第三范圍進(jìn)行一第二零交會(huì)處位置分析;以及
分別由每一個(gè)第四起始位置朝該第一方向的一第四范圍進(jìn)行該第二零交會(huì)處位置分析,其中該第二零交會(huì)處位置分析所分析出來(lái)的零交會(huì)處為相應(yīng)該第一特性的位置,并且其中該第三范圍與該第四范圍不包括該第二部分。
11.一種在互電容偵測(cè)中分析位置的裝置,其特征在于其包括:
包括多個(gè)感測(cè)器的一感測(cè)裝置;以及
一控制器,執(zhí)行下列作業(yè):
由多個(gè)感測(cè)器取得相應(yīng)于至少一外部物件接近或觸碰一第一信號(hào)源的一觸敏資訊;
當(dāng)該觸敏資訊包括分別相應(yīng)于一第一特性與相應(yīng)于一第二特性的第一部分與第二部分,并且該第一特性與該第二特性相反時(shí),由該第二特性的部分分析是否存在具有有相應(yīng)于一第三特性的一第三部分,其中該第三部分相應(yīng)于該至少一外部物件接近或觸碰該第一信號(hào)源;以及
由該第三部分分析出該第三部分中相應(yīng)于該至少一外部物件的接近或觸碰的位置。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F3-00 用于將所要處理的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)變成為計(jì)算機(jī)能夠處理的形式的輸入裝置;用于將數(shù)據(jù)從處理機(jī)傳送到輸出設(shè)備的輸出裝置,例如,接口裝置
G06F3-01 .用于用戶和計(jì)算機(jī)之間交互的輸入裝置或輸入和輸出組合裝置
G06F3-05 .在規(guī)定的時(shí)間間隔上,利用模擬量取樣的數(shù)字輸入
G06F3-06 .來(lái)自記錄載體的數(shù)字輸入,或者到記錄載體上去的數(shù)字輸出
G06F3-09 .到打字機(jī)上去的數(shù)字輸出
G06F3-12 .到打印裝置上去的數(shù)字輸出
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