[發(fā)明專利]芯片的USB功能的測(cè)試方法、測(cè)試主機(jī)和測(cè)試系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010288229.1
• 申請(qǐng)日: 2010-09-19
• 公開（公告）號(hào): CN102401879A
• 公開（公告）日: 2012-04-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 艾國(guó);朱立英
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京中星微電子有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/3183
• 分類號(hào): G01R31/3183
• 代理公司: 北京銀龍知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11243
• 代理人: 郭海彬

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及芯片測(cè)試技術(shù)，特別是涉及芯片的USB功能的測(cè)試方法、測(cè)試主機(jī)和測(cè)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

芯片的BIST(Built-in?Self?Test，內(nèi)建自測(cè))技術(shù)，是芯片設(shè)計(jì)時(shí)在電路中植入相關(guān)功能的自我測(cè)試電路，以此降低器件測(cè)試對(duì)ATE(自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，Auto?Test?Equipment)的依賴程度。因此，具有USB(Universal?Serial?Bus，通用串行總線)接口的芯片，其USB功能一般都是由自測(cè)電路完成的，在ATE測(cè)試整個(gè)芯片時(shí)，一般不對(duì)芯片中具有自測(cè)電路的USB功能進(jìn)行驗(yàn)證，而是由其自測(cè)電路完成測(cè)試。

芯片在ATE上進(jìn)行量產(chǎn)測(cè)試時(shí)，在USB?phy(USB接口網(wǎng)卡)內(nèi)建自測(cè)通過后，USB應(yīng)該是都能正常使用的，但事實(shí)上有些例外情況，USB?phy內(nèi)建自測(cè)通過后，USB設(shè)備仍不能被識(shí)別。

因此，為了更好更準(zhǔn)確的測(cè)試芯片的USB功能，需要開發(fā)一個(gè)能夠準(zhǔn)確測(cè)試USB設(shè)備的測(cè)試系統(tǒng)，確保USB設(shè)備能夠使用。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種芯片的USB功能的測(cè)試方法、測(cè)試主機(jī)和測(cè)試系統(tǒng)，本發(fā)明使待測(cè)芯片不再需要具有USB?phy自建測(cè)試模塊，能減少芯片設(shè)計(jì)者的工作和負(fù)擔(dān)，并能更好更準(zhǔn)確的測(cè)試芯片的USB功能。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，一方面，提供了一種芯片的USB功能的測(cè)試方法，包括如下步驟：

步驟一，通過測(cè)試主機(jī)上的GPIO引腳獲取測(cè)試開始信號(hào)以及被測(cè)芯片所連接的所述測(cè)試主機(jī)上的USB測(cè)試端口的端口號(hào)，并啟動(dòng)所述測(cè)試主機(jī)上的測(cè)試功能模塊；

步驟二，所述測(cè)試主機(jī)打開與所述端口號(hào)對(duì)應(yīng)的繼電器，從而接通所述USB測(cè)試端口；

步驟三，所述測(cè)試功能模塊通過所述USB測(cè)試端口使所述被測(cè)芯片進(jìn)入中斷狀態(tài)；

步驟四，獲取在中斷狀態(tài)下所述被測(cè)芯片的USB端口的電流信息；

步驟五，所述測(cè)試功能模塊根據(jù)所述電流信息生成測(cè)試結(jié)果。

優(yōu)選地，上述的方法中，還包括：

步驟六，所述測(cè)試功能模塊通過所述GPIO引腳獲取測(cè)試結(jié)束信號(hào)，通過串口將所述測(cè)試結(jié)果發(fā)送給個(gè)人電腦，清除所述測(cè)試結(jié)果和所述測(cè)試結(jié)束信號(hào)，關(guān)閉所述繼電器，等待下一次測(cè)試。

優(yōu)選地，上述的方法中，在所述步驟三之前，還包括：所述測(cè)試功能模塊通過枚舉的方式，通過所述USB測(cè)試端口連接所述被測(cè)芯片。

優(yōu)選地，上述的方法中，所述測(cè)試開始信號(hào)來自于自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，所述被測(cè)芯片為所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備所測(cè)試的芯片。

優(yōu)選地，上述的方法中，所述測(cè)試開始信號(hào)來自于手動(dòng)輸入，所述被測(cè)芯片為具有USB端口的設(shè)備。

本發(fā)明還提供了一種芯片的USB功能的測(cè)試主機(jī)，包括：

USB測(cè)試端口，用于連接被測(cè)芯片；

繼電器，用于開啟或關(guān)閉所述USB測(cè)試端口；

GPIO引腳，用于獲取測(cè)試開始信號(hào)以及所述被測(cè)芯片所連接的所述USB測(cè)試端口的端口號(hào)；

測(cè)試功能模塊，用于打開與所述端口號(hào)對(duì)應(yīng)的繼電器，從而接通所述USB測(cè)試端口，通過所述USB測(cè)試端口使所述被測(cè)芯片進(jìn)入中斷狀態(tài)；獲取在中斷狀態(tài)下所述被測(cè)芯片的USB端口的電流信息；根據(jù)所述電流信息生成測(cè)試結(jié)果。

優(yōu)選地，上述的測(cè)試主機(jī)中，還包括：

串口，用于將所述測(cè)試結(jié)果發(fā)送給個(gè)人電腦。

優(yōu)選地，上述的測(cè)試主機(jī)中，所述測(cè)試功能模塊還用于：通過枚舉測(cè)試的方式，通過所述USB測(cè)試端口連接所述被測(cè)芯片。

優(yōu)選地，上述的測(cè)試主機(jī)中，所述測(cè)試主機(jī)包括OTG功能的子板和嵌入式系統(tǒng)裝置；

所述USB測(cè)試端口、所述繼電器，所述GPIO引腳和所述串口位于所述OTG功能的子板；

所述測(cè)試功能模塊位于所述嵌入式系統(tǒng)裝置。

本發(fā)明還提供一種芯片的USB功能的測(cè)試系統(tǒng)，包括：自動(dòng)測(cè)試設(shè)備、被測(cè)芯片和測(cè)試主機(jī)；

所述測(cè)試主機(jī)包括：

USB測(cè)試端口，用于連接所述被測(cè)芯片；

繼電器，用于開啟或關(guān)閉所述USB測(cè)試端口；

GPIO引腳，用于連接所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，獲取測(cè)試開始信號(hào)以及所述被測(cè)芯片所連接的所述USB測(cè)試端口的端口號(hào)；

測(cè)試功能模塊，用于打開與所述端口號(hào)對(duì)應(yīng)的繼電器，從而接通所述USB測(cè)試端口，通過所述USB測(cè)試端口使所述被測(cè)芯片進(jìn)入中斷狀態(tài)；獲取在中斷狀態(tài)下所述被測(cè)芯片的USB端口的電流信息；根據(jù)所述電流信息生成測(cè)試結(jié)果。