[發(fā)明專利]NANDFLASH參數(shù)探測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010286865.0 | 申請(qǐng)日: | 2010-09-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102402485A | 公開(公告)日: | 2012-04-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 姜迪輝;易若翔;胡勝發(fā) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 安凱(廣州)微電子技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F12/02 | 分類號(hào): | G06F12/02;G06F12/06 |
| 代理公司: | 廣州知友專利商標(biāo)代理有限公司 44104 | 代理人: | 宣國(guó)華 |
| 地址: | 510663 廣東省廣州市廣州高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | nandflash 參數(shù) 探測(cè) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及對(duì)存儲(chǔ)介質(zhì)的存儲(chǔ)容量參數(shù)的探測(cè)方法,具體涉及一種NANDFLASH的參數(shù)探測(cè)方法。
背景技術(shù)
當(dāng)前各類嵌入式系統(tǒng)開發(fā)設(shè)計(jì)中,存儲(chǔ)模塊是不可或缺的重要方面。flash存儲(chǔ)器作為一種安全、快速的存儲(chǔ)體,具有體積小、容量大、成本低、掉電數(shù)據(jù)不丟失等一系列優(yōu)點(diǎn)。目前已經(jīng)逐步取代其它半導(dǎo)體存儲(chǔ)元件,成為嵌入式系統(tǒng)中數(shù)據(jù)和程序的主要載體。
但市面上各種NANDFLASH的特性因廠商、工藝等的區(qū)別而大相徑庭:就主流廠商而言,有Samsung、Hynix、Toshiba、Micron、ST、Intel等;就單元級(jí)別而言,有SLC(single?level?cell,單級(jí)單元)和MLC(multi?level?cell,多級(jí)單元)之分;就同一系列的NANDFLASH而言,有M代、A代、B代……之分,如三星的K9G4G08X0M、K9G4G08X0A和K9G4G08X0B;當(dāng)然除去上述幾點(diǎn),還有其他各種差異點(diǎn)。
對(duì)采取NANDFLASH為存儲(chǔ)器的嵌入式產(chǎn)品方案設(shè)計(jì)中,為了滿足不同生產(chǎn)客戶的實(shí)際要求,方案設(shè)計(jì)公司會(huì)提供方案支持的NANDFLASH支持列表,支持列表會(huì)詳細(xì)列出所有支持的NANDFLASH參數(shù)。在具體的軟件系統(tǒng)設(shè)計(jì)中,可以采取結(jié)構(gòu)體數(shù)組的方式,存儲(chǔ)所有支持NANDFLASH的參數(shù)。如下所示的結(jié)構(gòu)體為對(duì)一款NANDFLASH基本參數(shù)的描述:
Typedef?struct
Nand_phy_info{
???T_U32???ChipId;????????//chip?id
???T_U16???PageSize;??????//page?size
???T_U16???PagesPerBlock;?//pages?of?one?block
???T_U16???BlockNum;??????//total?block?number
???T_U8????SpareSize;?????//spare?size
}T_NAND_PHY_INFO
其中ChipID為NANDFLASH的ID號(hào),PageSize表示一個(gè)頁(yè)的大小,PagesPerBlock為一個(gè)block包含的page數(shù)目,BlockNum為NANDFLASH一個(gè)片選的block數(shù),SpareSize為一個(gè)頁(yè)spare區(qū)域的大小。
NANDFLASH種類繁多,參數(shù)各異,獲取NANDFLASH的參數(shù)需要詳盡閱讀每個(gè)NANDFLASH廠家每款NANDFLASH發(fā)布的芯片文檔,工作量相當(dāng)大,而若沒有某款NANDFLASH的datasheet時(shí)將無(wú)法使用該NANDFLASH。
在實(shí)際的研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中,由于生產(chǎn)廠家進(jìn)貨渠道的不同,可能采購(gòu)到林林總總的NANDFLASH,有的可能沒有相應(yīng)的資料說(shuō)明書(datasheet),有的可能表面被打磨后標(biāo)識(shí)模糊不清。對(duì)于這種沒有具體資料的“無(wú)名”NANDFLASH的使用,由于無(wú)法預(yù)知或獲取其使用NANDFLASH的基本參數(shù),成為了很多方案設(shè)計(jì)和生產(chǎn)廠家在使用和生產(chǎn)中的一道難題。本技術(shù)則可以根據(jù)NANDFLASH的特性,在沒有NANDFLASH具體資料的情況下,僅通過(guò)對(duì)NANDFLASH進(jìn)行一些基本操作(擦除、寫數(shù)據(jù)和讀數(shù)據(jù)),從而探測(cè)到其基本參數(shù)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種NANDFLASH參數(shù)探測(cè)方法,本方法能夠根據(jù)NANDFLASH樣片及其使用環(huán)境來(lái)自動(dòng)獲取NANDFLASH基本參數(shù),而無(wú)需該NANDFLASH的資料說(shuō)明書(datasheet)。
本發(fā)明的目的可通過(guò)以下的技術(shù)措施來(lái)實(shí)現(xiàn):一種NANDFLASH參數(shù)探測(cè)方法,其特征在于包括以下步驟:
(A)探測(cè)所述NANDFLASH中片選數(shù)量、所述每個(gè)片選中的塊數(shù)量、所述每個(gè)塊中頁(yè)面數(shù)量和每個(gè)頁(yè)面大小參數(shù);
(B)根據(jù)步驟(A)得到的片選數(shù)量、塊數(shù)量、頁(yè)面數(shù)量和頁(yè)面大小參數(shù)計(jì)算所述NANDFLASH的總?cè)萘繀?shù)。
所述步驟(A)中頁(yè)面大小參數(shù)的探測(cè)過(guò)程為:
(a1)區(qū)分所述NANDFLASH的頁(yè)面為大頁(yè)或是小頁(yè),所述大頁(yè)為2K?Bytes或者4K?Bytes的頁(yè)面大小參數(shù),所述小頁(yè)為512?Bytes的頁(yè)面大小參數(shù);如果為小頁(yè),則探測(cè)過(guò)程結(jié)束,否則進(jìn)入步驟(a2);
(a2)區(qū)分所述大頁(yè)的頁(yè)面大小參數(shù)為2K?Bytes或是4K?Bytes。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于安凱(廣州)微電子技術(shù)有限公司,未經(jīng)安凱(廣州)微電子技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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