[發明專利]發光二極管漏電流測試方法及系統無效
| 申請號： | 201010285715.8 | 申請日： | 2010-09-17 |
| 公開（公告）號： | CN102004181A | 公開（公告）日： | 2011-04-06 |
| 發明（設計）人： | 嚴偉;袁晨 | 申請（專利權）人： | 上海北京大學微電子研究院 |
| 主分類號： | G01R19/00 | 分類號： | G01R19/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 發光二極管 漏電 測試 方法 系統 | ||
1.一種發光二極管漏電流測試系統，其特征在于，包括恒溫裝置、控制器及TLP測試裝置；其中
所述控制器連接至恒溫裝置，用于設置恒溫裝置內的恒溫溫度；
所述TLP測試裝置連接至恒溫裝置及控制器，用于測試需要放置在恒溫裝置內的發光二極管的漏電流，并將測試結果發送至控制器。
2.如權利要求1所述的漏電流測試系統，其特征在于，所述控制器包括溫度調節模塊，用于調節恒溫裝置內的溫度值。
3.如權利要求2所述的漏電流測試系統，其特征在于，所述測試結果包括恒溫裝置處于不同恒溫時的發光二極管漏電流測試結果。
4.如權利要求1所述的漏電流測試系統，其特征在于，所述測試結果包括不同測試電壓下的發光二極管漏電流值。
5.如權利要求1所述的漏電流測試系統，其特征在于，所述恒溫裝置內設置有開關陣列底座，該底座具體包括：
開關陣列，設置有一對或多對發光二極管兩極接口，用于接入待測試發光二極管。
整流模組，連接至開關陣列，用于通過開關陣列向待測試發光二極管施加測試信號并獲取測試結果。
6.一種發光二極管漏電流測試方法，其特征在于，包括步驟：
通過控制線纜(2)調節恒溫箱(3)內待測發光二極管的環境溫度并保持恒溫；
將待測發光二極管通過開關陣列底座(6)接入TLP測試系統(5)；
通過幅度連續可調的矩形短脈沖，實現對待測發光二極管漏電流的檢測；
TLP測試系統將結果返回處理器(1)。
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