[發明專利]光信號質量監控裝置

無效

• 申請號: 201010280516.8
• 申請日: 2010-09-10
• 公開（公告）號: CN102035598A
• 公開（公告）日: 2011-04-27
• 發明（設計）人: 賀川昌俊
• 申請（專利權）人: 沖電氣工業株式會社
• 主分類號: H04B10/08
• 分類號: H04B10/08;H04B10/12
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王軼;李偉

1.一種光信號質量監控裝置，其特征在于，具有：

分路單元，其將用二進制強度調制的監控對象的光信號分路為3路以上；

平均強度檢測單元，其根據任意一個分路光信號檢測出平均強度；

兩個以上的信號強度檢測單元，即，第一信號強度檢測單元和延遲時間不同的一個以上的第二信號強度檢測單元，其中上述第一信號強度檢測單元根據任意一個分路光信號檢測出與比特率相當的頻率的信號強度，上述第二信號強度檢測單元在使任意一個分路光信號和使該分路光信號延遲規定的延遲時間的光信號干涉之后，檢測出與其干涉信號中的比特率相當的頻率的信號強度；

特性決定單元，其在得到以檢測出的平均強度為基準的被檢測出的各信號強度的相對強度后，決定監控對象的光信號的波長色散以及光SNR、或者波長色散以及光SNR的變化趨勢。

2.根據權利要求1所述的光信號質量監控裝置，其特征在于，

具有上述第一信號強度檢測單元和上述第二信號強度檢測單元各一個，上述第二信號強度檢測單元的延遲時間被選定在1/2比特期間。

3.根據權利要求1所述的光信號質量監控裝置，其特征在于，

不具備上述第一信號強度檢測單元而具備兩個上述第二信號強度檢測單元，一個上述第二信號強度檢測單元的延遲時間被選定在1比特期間，另一個上述第二信號強度檢測單元的延遲時間被選定在1/2比特期間。

4.根據權利要求3所述的光信號質量監控裝置，其特征在于，

上述各第二信號強度檢測單元分別用向與比特率相當的頻率施加了偏頻的頻率的信號來調制干涉信號，并轉換為比干涉信號低頻的信號，檢測該低頻信號的強度，作為相當于干涉信號中的比特率的頻率的信號強度。