[發(fā)明專利]電阻抗斷層功能圖像與解剖圖像的合成方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010275856.1 | 申請日： | 2010-09-08 |
| 公開（公告）號： | CN101984462A | 公開（公告）日： | 2011-03-09 |
| 發(fā)明（設計）人： | 陳曉艷;王化祥 | 申請（專利權(quán)）人： | 天津科技大學 |
| 主分類號： | G06T5/50 | 分類號： | G06T5/50;G06T7/00 |
| 代理公司： | 天津盛理知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 12209 | 代理人： | 王來佳 |
| 地址： | 300457 天津市*** | 國省代碼： | 天津;12 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 阻抗 斷層 功能 圖像 解剖 合成 方法 | ||
1.一種電阻抗斷層功能圖像與解剖圖像的合成方法，其特征在于：包括如下步驟：
(1)獲取相同時刻的電阻抗斷層功能圖像和解剖圖像；
(2)將電阻抗斷層功能圖像和解剖圖像進行邊界配準；
(3)提取電阻抗斷層功能圖像中的電阻抗敏感區(qū)域的圖像特征；
(4)將電阻抗斷層功能圖像與解剖圖像使用圖像分割方法進行圖像合成得到偽彩色顯示的合成圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電阻抗斷層功能圖像與解剖圖像的合成方法，其特征在于：在步驟(1)和(3)之間還包括采用共軛梯度方法重構(gòu)電阻抗斷層功能圖像的步驟。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電阻抗斷層功能圖像與解剖圖像的合成方法，其特征在于：所述重構(gòu)電阻抗斷層功能圖像的具體步驟：
(1)采用canny算子提取解剖圖像的邊界特征；
(2)利用解剖圖像的邊界特征建立電阻抗斷層成像數(shù)學模型進行正問題求解；
(3)采用共軛梯度法重建具有與解剖圖像相同邊界特征的電阻抗斷層功能圖像。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電阻抗斷層功能圖像與解剖圖像的合成方法，其特征在于：所述步驟(4)中的圖像分割方法是將電阻抗變化區(qū)域的特征參數(shù)值用顏色映射到解剖圖像中的對應位置，從而得到偽彩色顯示的合成圖像。
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