[發明專利]用于TD-LTE終端自動頻率控制校準的方法和系統

無效

• 申請號: 201010272365.1
• 申請日: 2010-09-02
• 公開（公告）號: CN101977085A
• 公開（公告）日: 2011-02-16
• 發明（設計）人: 朱富利;晏建軍;劉勁柏;張陽;張家平;晁汾濤
• 申請（專利權）人: 湖北眾友科技實業股份有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00;H04M1/24
• 代理公司: 武漢開元知識產權代理有限公司 42104
• 代理人: 劉志菊

1.一種用于TD-LTE終端自動頻率控制校準的測量方法，其特征在于：校準設備包括PC機和綜測儀，綜測儀包括主控機和射頻數字接收模塊，PC機通過GPIB接口與綜測儀主控機連接，PC機通過串口與被測終端連接，被測終端通過射頻線與綜測儀射頻數字接收模塊連接，按如下步驟校準：

(1)PC機通過主控機配置射頻數字接收模塊觸發采集方式為絕對電平觸發；

(2)PC機通過串口設置終端數模轉換器DAC，從最小值開始以1bit間隔步進設置DAC值，被測終端通過DAC值產生電壓，繼而通過壓控振蕩器輸出各設置的DAC電壓控制值對應的頻率；

(3)PC機控制終端按步驟(2)中的DAC電壓控制值對應控制的發射頻率在連續無線幀中的不同子幀上進行發送；

(4)射頻數字接收模塊接收終端發送的射頻信號，處理后成為數字基帶信號，送入主控機；

(5)主控機計算不同子幀上信號的頻率值，并與TD-LTE標準要求的穩定發射頻率相比計算頻差；

(6)PC機通過GPIB接口主動接收綜測儀計算的所有頻差，檢驗最小頻差，并記錄此頻差對應的DAC值，同時根據最大DAC值和最小DAC值對應的頻差擬合出一條斜線，計算出此斜線的斜率，所述最小頻差對應的的DAC值和斜率即為校準的AFC參數；

(7)PC機通過串口將所述的AFC參數寫入被測終端。

2.根據權利要求1所述的測試方法，其特征是：在執行上述步驟3時，當TD-LTE終端在同時最多支持5個子幀0，2，4，6，8發送上行信號時，每個無線幀中的子幀1，3，5，7，9作為切頻的延時時間，保證切頻的穩定，此時在每個無線幀中的子幀0，2，4，6，8上使用校準頻率發送，用子幀1，3，5，7，9作為切頻的穩定時間。

3.根據權利要求1所述的測試方法，其特征是：在執行上述步驟3時，當被測終端性能同時支持10個子幀發送上行信號時，在每個子幀前的160個循環前綴的時間內，能夠讓被測終端切換到下一個子幀的頻率，并使切頻穩定，則AFC校準同時支持10個不同的頻點發送上行信號，這時，使用子幀0-9發射校準頻率來進行自動頻率控制校準。

4.一種用于權利要求1～3之一所述方法的TD-LTE終端自動頻率控制校準的測試系統，包括PC機部分、終端頻率值接收和計算部分、檢驗部分，其特征在于，終端頻率值接收和計算部分采用綜測儀，綜測儀包括主控機和射頻數字接收模塊，PC機通過GPIB接口與綜測儀主控機連接，PC機通過串口與被測終端連接，被測終端通過射頻線與綜測儀射頻數字接收模塊連接；

射頻數字接收模塊接收被測終端發來的射頻信號，實現下變頻、中頻信號數字化和數字正交解調功能，處理成為數字基帶信號，送入主控機；

主控機通過PXI接口與射頻數字接收模塊連接，同時對其進行觸發采集方式的配置，主控機根據采集到的信號數據計算出相應頻率值，并與TD-LTE標準要求的穩定發射頻率相比計算頻差，然后通過GPIB接口反饋給PC機；

PC機向被測終端和綜測儀下發控制命令，并進行校準線擬合，同時能夠將校準參數寫入終端的EEPROM中。

5.根據權利要求4所述的TD-LTE終端自動頻率控制校準的測試系統，其特征在于：PC機包含配置模塊、采集模塊和計算校驗模塊；

所述的配置模塊通過終端廠商提供的被測終端參數接口并通過串口對被測終端進行DAC值的配置，并在校準結束后寫入AFC參數，同時能夠通過GPIB總線遠程控制綜測儀主控機，通過綜測儀主控機實現對綜測儀射頻數字接收模塊的配置；

所述的采集模塊通過GPIB總線從主控機中接收頻差數據；

所述的計算校驗模塊根據最大DAC值和最小DAC值對應的頻差擬合出一條斜線，計算出此斜線的斜率，同時檢驗最小頻差，并記錄此頻差對應的DAC值。

6.根據權利要求4或5所述的TD-LTE終端自動頻率控制校準的測試系統，其特征在于：所述的主控機包括驅動層、采集層和算法層；

所述的驅動層通過PC機發送的遠程控制命令實現對射頻數字接收模塊的啟動和初始化；所述的采集層能夠配置射頻數字接收模塊的觸發方式，并依此采集相關數據；所述的算法層完成不同子幀上頻率值的計算，并與TD-LTE標準要求的穩定發射頻率相比計算頻差。