[發明專利]一種掃描成像光譜儀光路結構無效
| 申請號: | 201010271621.5 | 申請日: | 2010-09-03 |
| 公開(公告)號: | CN101975610A | 公開(公告)日: | 2011-02-16 |
| 發明(設計)人: | 唐義;吳雁;劉健鵬;倪國強;張止戈 | 申請(專利權)人: | 北京理工大學 |
| 主分類號: | G01J3/28 | 分類號: | G01J3/28;G01J3/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100081 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 掃描 成像 光譜儀 結構 | ||
1.一種掃描成像光譜儀光路結構,包括:
掃描反射鏡,對來自目標的入射光線進行反射,并進行一維成像掃描;
光闌,用于接收掃描反射鏡的反射光,并選擇一定視場角范圍內的光進入光譜儀;
望遠物鏡,將來自光闌的光聚焦到狹縫上,實現一次成像;
狹縫,限制進入光譜儀分光系統的光束大小,其寬度決定光譜儀的光譜分辨力,其高度決定光譜儀的成像維視場角,即單幅光譜圖像的成像范圍;
準直物鏡,將通過狹縫的光反射到光柵上;
光柵,進行分光;
聚焦物鏡,將分光后的光聚焦至探測器的光敏面處進行分光光譜成像;
探測器,二維陣列探測器,采集光譜圖像數據。
2.根據權利要求1所述的準直物鏡,其特征在于經過準直物鏡準直后的光束可以是平行光、發散光或者會聚光。
3.根據權利要求1所述的光譜儀光路結構,其特征在于,光學系統中的各個光學元件除光闌和狹縫外均采用全反射式光學元件,所有反射元件均鍍高反射率膜。
4.根據權利要求2所述的光譜儀光路結構,其特征在于,光譜儀通光孔徑優選10~150mm;光譜維瞬時視場角優選0.01°~2.0°;掃描視場角在10°~160°范圍內。
5.根據權利要求3所述的光譜儀光路結構,其特征在于,望遠物鏡是球面反射鏡或者離軸拋物面反射鏡。
6.根據權利要求3所述的光譜儀光路結構,其特征在于,準直物鏡和聚焦物鏡是球面反射鏡或者超環面反射鏡。
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