[發明專利]使用磁間距損耗評估數據存儲設備的方法和系統有效
| 申請號: | 201010266276.6 | 申請日: | 2010-08-27 |
| 公開(公告)號: | CN102005210A | 公開(公告)日: | 2011-04-06 |
| 發明(設計)人: | E·R·克里斯騰森;W·S·恰爾內斯基 | 申請(專利權)人: | 國際商業機器公司 |
| 主分類號: | G11B5/58 | 分類號: | G11B5/58 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務所 11247 | 代理人: | 于靜;楊曉光 |
| 地址: | 美國*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 使用 間距 損耗 評估 數據 存儲 設備 方法 系統 | ||
1.一種評估數據存儲設備的性能的方法,所述方法包括:
建立總體有效損耗參數閾值;
確定所述數據存儲設備的實際總體有效損耗參數;
如果所述實際總體有效損耗參數大于所述總體有效損耗參數閾值,則在運行上使所述數據存儲設備停止服務。
2.如權利要求1中所述的方法,還包括:
如果所述實際總體有效損耗參數不大于所述總體有效損耗參數閾值,則在運行上使用所述實際總體有效損耗參數來確定當所述數據存儲設備的總體有效損耗參數將大于所述總體有效損耗參數閾值時的未來時間;以及
安排在所述未來時間評估所述數據存儲設備。
3.如權利要求1中所述的方法,其中確定實際總體有效損耗參數包括:
在時間t1測量第一多個有限脈沖響應FIR抽頭;以及
通過計算所述第一多個FIR抽頭的傅立葉變換確定第一FIR傳遞函數。
4.如權利要求3中所述的方法,還包括:
在時間t2測量第二多個FIR抽頭;以及
通過計算所述第二多個FIR抽頭的傅立葉變換確定第二FIR傳遞函數;
其中時間t2在時間t1之后。
5.如權利要求4中所述的方法,還包括:使用所述第一FIR傳遞函數和所述第二FIR傳遞函數確定時間t2與時間t1之間的FIR幅度響應比。
6.如權利要求5中所述的方法,還包括:使用華萊士間距損耗函數以及所述時間t2與時間t1之間的FIR幅度響應比來計算所述實際有效損耗參數。
7.如權利要求6中所述的方法,還包括:求解總體有效損耗參數(d):
其中(Gt2)是所述第二FIR傳遞函數,(Gt1)是所述第一傳遞函數,(L)是幅度轉變密度,(n)是常數。
8.一種系統,其包括適于執行根據權利要求1-7中的任一權利要求的方法的所有步驟的裝置。
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