[發明專利]光纖故障檢測的系統及方法

有效

• 申請號: 201010263165.X
• 申請日: 2010-08-25
• 公開（公告）號: CN101924962A
• 公開（公告）日: 2010-12-22
• 發明（設計）人: 徐繼東;貝勁松
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04Q11/00
• 分類號: H04Q11/00;H04B10/08
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛;吳孟秋

1.一種光纖故障檢測的系統，其特征在于，包括光程檢測OTDR設備、波分復用耦合器、波長選擇耦合器、分光器、波長選擇路由器、第二通路模塊，其中：

所述OTDR設備，用于產生故障檢測的光程檢測信號，發送所述光程檢測信號至所述波分復用耦合器；

所述波分復用耦合器，與所述OTDR設備相連，用于將所述光程檢測信號導入主干光纖；

所述波長選擇耦合器，與所述主干光纖相連，用于將所述光程檢測信號傳輸至所述分光器；

所述分光器，與所述波長選擇耦合器相連，用于將所述光程檢測信號傳輸到所述波長選擇路由器；

所述波長選擇路由器，與所述分光器連接，用于將所述光程檢測信號傳輸至對應的分支光纖；并接收所述分支光纖傳輸的光程檢測反射信號，發送所述光程檢測反射信號至與所述分光器并行的所述第二通路模塊；

所述第二通路模塊，用于將所述光程檢測反射信號發送至所述波長選擇耦合器；

所述波長選擇耦合器，與所述第二通路模塊相連，還用于將所述光程檢測反射信號通過所述主干光纖發送至所述波分復用耦合器；

所述波分復用耦合器，還用于從所述主干光纖分離出光程檢測反射信號，并將所述光程檢測反射信號發送至OTDR設備；

所述OTDR設備，還用于根據所述光程檢測反射信號判斷所述主干光纖和/或分支光纖的光纖故障。

2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，

所述OTDR設備為可調諧OTDR設備，用于產生針對目標分支光纖的預設波長的光程檢測信號，并根據所述光程檢測反射信號判斷所述主干光纖或所述目標分支光纖的故障；

所述第二通路模塊包括列陣波導光柵AWG，所述AWG的通用口與所述波長選擇耦合器相連，所述AWG的分支通道通過對應的波長選擇路由器與所述目標分支光纖相連，所述AWG用于接收所述分支光纖的光程檢測反射信號，并將其發送至所述波長選擇耦合器；

所述OTDR設備，用于根據所述光程檢測反射信號判斷所述目標分支光纖的故障。

3.根據權利要求2所述的系統，其特征在于，

所述光程檢測信號的預設波長個數與所述分支光纖的個數相等。

4.根據權利要求2所述的系統，其特征在于，

所述AWG與環境溫度無關，或

所述第二通道模塊還包括：溫控設備，用于保持所述AWG的穩定工作環境。

5.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述波分復用耦合器位于OLT側，包括：第一薄膜濾波器，

所述第一薄膜濾波器的P端口與光線路終端OLT相連，C端口與所述主干光纖相連，R端口與OTDR設備相連；

所述第一薄膜濾波器對波長在1625nm以上的光均反射，對波長在1625nm以下的光均透射。

6.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述波長選擇耦合器包括四接口光環行器和第二薄膜濾波器，

所述光環行器的接口1與所述第二薄膜濾波器的C接口相連，光環行器的接口2與所述主干光纖連接，光環行器的接口3與所述分光器連接，光環行器的接口4與所述第二薄膜濾波器的P接口相連；

所述第二薄膜濾波器對波長在1625nm以上的光均反射，對波長在1625nm以下的光均透射。

7.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述波長選擇耦合器包括兩個三接口光環行器和第四薄膜濾波器，

所述第一光環行器的接口1與所述第四薄膜濾波器的C接口相連，第一光環行器的接口2與所述主干光纖連接，第二光環行器的接口2與所述分光器連接，所訴第二光環行器的接口3與所述第四薄膜濾波器的P接口相連，所訴第一光環行器的接口3與所述第二的光環行器的接口1相連；

所述第四薄膜濾波器對波長在1625nm以上的光均反射，對波長在1625nm以下的光均透射。

8.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述波長選擇路由器包括四接口光環行器和第三薄膜濾波器，

所述光環行器的接口1與所述第三薄膜濾波器的P接口相連，光環行器的接口2與所述分光器連接，所述光環行器的接口3與分支光纖連接，所述光環行器的接口4與所述第三薄膜濾波器的C接口相連；

所述第三薄膜濾波器對波長在1625nm以上的光均反射，對波長在1625nm以下的光均透射。