[發(fā)明專利]一種用于逐步接近型數(shù)模轉(zhuǎn)換器的自測裝置和自測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010251150.1
• 申請日: 2010-08-12
• 公開（公告）號: CN101895294A
• 公開（公告）日: 2010-11-24
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 郁新華;張洪;楊清
• 申請（專利權(quán)）人: 美凌微電子(上海)有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 上海信好專利代理事務(wù)所(普通合伙) 31249
• 代理人: 周榮芳;朱九皋

1.一種用于逐步接近型數(shù)模轉(zhuǎn)換器的自測裝置，其特征在于，該自測裝置包含電路連接的主數(shù)模轉(zhuǎn)換器(201)、次數(shù)模轉(zhuǎn)換器(203)、自我校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器(204)和比較器(202)；

該自測裝置還包含電路連接所述主數(shù)模轉(zhuǎn)換器(201)和次數(shù)模轉(zhuǎn)換器(203)的逐步接近控制器(205)、電路連接所述主數(shù)模轉(zhuǎn)換器(201)的自我測試控制器(210)、以及，電路連接所述自我校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器(204)的自我校準(zhǔn)控制器(208)；

所述的主數(shù)模轉(zhuǎn)換器(201)中設(shè)置有參考電壓端(VREF1)、1/2參考電壓端(VREF2)和接地端(GND)。

2.如權(quán)利要求1所述的用于逐步接近型數(shù)模轉(zhuǎn)換器的自測裝置，其特征在于，所述的自測裝置還包含電路連接所述自我校準(zhǔn)控制器(208)的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲器(207)、和，電路連接所述校準(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲器(207)和自我校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器(204)的累加器(206)。

3.如權(quán)利要求2所述的用于逐步接近型數(shù)模轉(zhuǎn)換器的自測裝置，其特征在于，所述的主數(shù)模轉(zhuǎn)換器(201)包含若干電容列(C_1A、C_1B……C_N)，每個電容的上端并聯(lián)，接總開關(guān)(G1)，總開關(guān)(G1)可以斷開或接地，每個電容的下端對應(yīng)設(shè)置有若干電容控制開關(guān)(S_i)，這里i的取值為N、N-1、…、1B、1A，所述的若干電容控制開關(guān)(S_i)接參考電壓端(VREF1)、或者1/2參考電壓端(VREF2)，或者接地端(GND)。

4.一種利用權(quán)利要求1所述的自測裝置來對逐步接近型數(shù)模轉(zhuǎn)換器進行自測的方法，其特征在于，該自測方法包含以下步驟：

步驟1、自我校準(zhǔn)；

自我校準(zhǔn)的過程從最大的電容開始；

步驟2、單一電容測試；

單一電容測試的過程從最大的電容開始；

步驟3、間隔電容測試。

5.如權(quán)利要求4所述的對逐步接近型數(shù)模轉(zhuǎn)換器進行自測的方法，其特征在于，所述的步驟1包含以下步驟：

步驟1.1、將主數(shù)模轉(zhuǎn)換器(201)中的總開關(guān)(G1)接地，令i＝N，i--，若j＞＝i，則令S_j＝0，即，將相應(yīng)的電容控制開關(guān)接地，若j＜i，則令S_j＝1，即，將相應(yīng)的電容控制開關(guān)接參考電壓端(VREF1)；

步驟1.2、斷開總開關(guān)(G1)，令i＝N，i--，若j＝i，則令S_j＝1，即，將相應(yīng)的電容控制開關(guān)接參考電壓端(VREF1)，若j！＝i，則令S_j＝0，即，將相應(yīng)的電容控制開關(guān)接地；

步驟1.3、利用次數(shù)模轉(zhuǎn)換器(203)來測量剩余電壓V_xi，并判斷剩余電壓V_xi是否大于設(shè)定的閾值V_th1，若是，則跳轉(zhuǎn)到步驟1.4，若否，則跳轉(zhuǎn)到步驟1.5；

步驟1.4、提示存在制造缺陷，跳轉(zhuǎn)到步驟1.5；

步驟1.5、判斷i＝1是否成立，若是，則跳轉(zhuǎn)到步驟2，若否，則跳轉(zhuǎn)到步驟1.1。

6.如權(quán)利要求4所述的對逐步接近型數(shù)模轉(zhuǎn)換器進行自測的方法，其特征在于，所述的步驟2包含以下步驟：

步驟2.1、將總開關(guān)(G1)接地，令i＝N，i--，令S_i＝1/2，即，將相應(yīng)的電容控制開關(guān)接1/2參考電壓端(VREF2)；

步驟2.2、斷開總開關(guān)(G1)，令S_i-1＝1，即，將相應(yīng)的電容控制開關(guān)接參考電壓端(VREF1)；

步驟2.3、利用次數(shù)模轉(zhuǎn)換器(203)來測量剩余電壓V_xi，并判斷剩余電壓V_xi是否大于設(shè)定的閾值V_th2，若是，則跳轉(zhuǎn)到步驟2.4，若否，則跳轉(zhuǎn)到步驟2.5；

步驟2.4、提示存在制造缺陷，跳轉(zhuǎn)到步驟2.5；

步驟2.5、判斷i＝1是否成立，若是，則跳轉(zhuǎn)到步驟3，若否，則跳轉(zhuǎn)到步驟2.1。