[發(fā)明專利]一種用于光學(xué)測量的積分球裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010242598.7
• 申請日: 2010-08-02
• 公開（公告）號: CN101915609A
• 公開（公告）日: 2010-12-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鞏巖;倪明陽;趙磊;張巍;王學(xué)亮;袁文全
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01J1/06
• 分類號: G01J1/06;G01J1/08
• 代理公司: 長春菁華專利商標(biāo)代理事務(wù)所 22210
• 代理人: 陶尊新

1.一種用于光學(xué)測量的積分球裝置，包括第一半積分球球殼(1)、第二半積分球球殼(2)、中心擋光板(3)、可調(diào)光源(4)、狹縫裝置(5)、采樣孔(6)、雜散光消除裝置(7)、出光孔(8)和探測孔(9)，所述第一半積分球球殼(1)與第二半積分球球殼(2)緊固在一起形成一個空心球殼；其特征是，所述中心擋光板(3)固定在第一半積分球球殼(1)與第二半積分球球殼(2)結(jié)合面的中心位置，可調(diào)光源(4)與第一半積分球球殼(1)的連接處設(shè)置采樣孔(6)，所述可調(diào)光源(4)與采樣孔(6)中間固定狹縫裝置(5)，所述雜散光消除裝置(7)通過螺紋固定在第二半積分球球殼(2)上，所述可調(diào)光源(4)、中心擋光板(3)與雜散光消除裝置(7)位于同一直線上，所述第二半積分球球殼(2)與雜散光消除裝置(7)的固定處設(shè)置出光孔(8)，所述探測孔(9)設(shè)置在第二積分球球殼上，探測孔(9)位于靠近出光孔(8)的下部。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于光學(xué)測量的積分球裝置，其特征在于，該積分球裝置還包括支架(10)，所述第一半積分球球殼(1)與第二半積分球球殼(2)形成的空心球殼與可調(diào)光源(4)固定在支架(10)上。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于光學(xué)測量的積分球裝置，其特征在于，所述的中心擋光板(3)采用三根對稱的細鋼絲牽引固定在第一半積分球球殼(1)與第二半積分球球殼(2)結(jié)合面的中心位置。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于光學(xué)測量的積分球裝置，其特征在于，所述可調(diào)光源(4)包括軸流風(fēng)扇(41)、12V電插頭(42)、散熱片(43)、底座(44)、燈座(45)、溴鎢燈(46)、拋物面冷反光鏡(47)和燈蓋(48)，所述溴鎢燈(46)的一側(cè)設(shè)置拋物面冷反光鏡(47)，燈蓋(48)將拋物面冷反光鏡(47)夾緊，溴鎢燈(46)的另一側(cè)設(shè)置軸流風(fēng)扇(41)，所述溴鎢燈(46)固定在底座(44)上，所述溴鎢燈(46)外部設(shè)有燈座(45)，所述燈座(45)上設(shè)有散熱片(43)和12V電插頭(42)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于光學(xué)測量的積分球裝置，其特征在于，所述的雜散光消除裝置(7)由環(huán)套(71)、襯套(72)、墊圈(73)、端蓋(74)以及三個長度不同的第一擋光圈(75)、第二擋光圈(76)和第三擋光圈(77)組成；所述上一級環(huán)套(71)的端面頂住下一級的襯套(72)，下一級環(huán)套(71)的內(nèi)階梯面對應(yīng)有墊圈(73)，墊圈(73)和襯套(72)將每一級的擋光圈夾緊；所述環(huán)套(71)與端蓋(74)之間采用螺紋緊固連接，所述襯套(72)與墊圈(73)的內(nèi)壁設(shè)置有消光齒紋。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于光學(xué)測量的積分球裝置，其特征在于，所述空心球殼的內(nèi)表面均勻噴涂高漫反射材料。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種用于光學(xué)測量的積分球裝置，其特征在于，所述的高漫反射材料為硫酸鋇或者聚四氟乙烯。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于光學(xué)測量的積分球裝置，其特征在于，所述的狹縫裝置(5)為雙向連續(xù)可調(diào)的狹縫裝置。