[發(fā)明專利]安全芯片的測試方法與系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010241690.1
• 申請日: 2010-07-30
• 公開（公告）號: CN101908112A
• 公開（公告）日: 2010-12-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 祁建華;湯雪飛;王錦;徐惠;劉遠(yuǎn)華;方華;張杰;凌儉波;葉建明
• 申請（專利權(quán)）人: 上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司
• 主分類號: G06F21/00
• 分類號: G06F21/00
• 代理公司: 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237
• 代理人: 鄭瑋

1.一種安全芯片的測試方法，其特征是，包括：

從所述安全芯片的接口讀取其送出的隨機(jī)數(shù)；

將所述隨機(jī)數(shù)通過移位寄存器后進(jìn)行加密或解密；

將所述加密或解密的結(jié)果送到所述安全芯片接口；

所述安全芯片對所述加密或解密的結(jié)果與其自身的處理結(jié)果進(jìn)行比對，比對結(jié)果一致，則通過身份確認(rèn)，對所述安全芯片進(jìn)行測試。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的安全芯片的測試方法，其特征是，在以上測試過程中，保持所述安全芯片處于工作狀態(tài)。

3.一種安全芯片的測試系統(tǒng)，其特征是，包括：

測試平臺，以放置所述安全芯片，并將所述安全芯片的接口引出；

移位寄存器，與所述測試平臺信號連接，讀取所述安全芯片的接口送出的隨機(jī)數(shù)；

加解密發(fā)生器，信號連接于所述移位寄存器與測試平臺，獲取所述移位寄存器所接收到的隨機(jī)數(shù)，并對所述隨機(jī)數(shù)進(jìn)行加密或解密，并將所述加密或解密的結(jié)果送到所述安全芯片接口。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的安全芯片的測試系統(tǒng)，其特征是，所述測試平臺在芯片測試過程中保持安全芯片處于工作狀態(tài)。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的安全芯片的測試系統(tǒng)，其特征是，所述加解密發(fā)生器與所述移位寄存器集成在一起。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的安全芯片的測試系統(tǒng)，其特征是，所述加解密發(fā)生器包括控制單元以及分別與所述控制單元信號連接的存儲單元、算法運(yùn)算單元和接口單元，其中，

所述存儲單元存儲算法運(yùn)算單元運(yùn)算所需的密鑰；

所述算法運(yùn)算單元在所述控制單元的控制下，通過所述接口單元獲取所述隨機(jī)數(shù)，并獲取所述存儲單元內(nèi)的密鑰，并對所述隨機(jī)數(shù)進(jìn)行加密或解密運(yùn)算，并將所述加密或解密的結(jié)果通過所述接口單元送到所述安全芯片接口。

7.一種安全芯片的測試系統(tǒng)，其特征是，包括：

測試平臺，以放置所述安全芯片，并將所述安全芯片的接口引出；

移位寄存器，與所述測試平臺信號連接，讀取所述安全芯片的接口送出的隨機(jī)數(shù)；

加解密工作站，信號連接于所述移位寄存器，獲取所述移位寄存器所接收到的隨機(jī)數(shù)，并對所述隨機(jī)數(shù)進(jìn)行加密或解密，并將所述加密或解密的結(jié)果送到所述安全芯片接口。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的安全芯片的測試系統(tǒng)，其特征是，所述測試平臺在芯片測試過程中保持安全芯片處于工作狀態(tài)。

9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的安全芯片的測試系統(tǒng)，其特征是，所述加解密工作站為計(jì)算機(jī)，其內(nèi)設(shè)置有存儲器，且所述存儲器內(nèi)存儲有加解密運(yùn)算程序與密鑰，且

所述計(jì)算機(jī)通過其接口接收所述移位寄存器所接收到的隨機(jī)數(shù)，并調(diào)用存儲器內(nèi)的加解密運(yùn)算程序與密鑰，對所述隨機(jī)數(shù)進(jìn)行加密或解密，并將所述加密或解密的結(jié)果送到所述安全芯片接口。