[實用新型]VCXO晶體電性能測試機構有效
| 申請號： | 201620237658.9 | 申請日： | 2016-03-26 |
| 公開（公告）號： | CN205427081U | 公開（公告）日： | 2016-08-03 |
| 發明（設計）人： | 郝建軍;李永斌;何慶利 | 申請（專利權）人： | 唐山國芯晶源電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 唐山永和專利商標事務所 13103 | 代理人： | 張云和 |
| 地址： | 064100 河北*** | 國省代碼： | 河北;13 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | vcxo 晶體 性能 測試 機構 | ||
【說明書】：
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