[發明專利]一種可編程的數字集成電路交流參數測試系統及方法

無效

• 申請號: 201010213813.0
• 申請日: 2010-06-26
• 公開（公告）號: CN101865946A
• 公開（公告）日: 2010-10-20
• 發明（設計）人: 王林;李應龍;黃美鈺;王耀林;李瀟;王雪梅;楊保書;王鈺中
• 申請（專利權）人: 天水天光半導體有限責任公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;G01R23/02
• 代理公司: 甘肅省知識產權事務中心 62100
• 代理人: 周春雷

技術領域

本發明涉及一種數字集成電路交流參數高精度的測試系統和方法，特別涉及一種可編程的數字集成電路交流參數測試系統及方法。

背景技術

目前，數字集成電路的測試遵照GB/T?17574(半導體器件集成電路第二部分：數字集成電路)規定的測試方法，該測試方法是數字集成電路測試方法的大綱，最科學、測試精度也最高，但該測試方法所規定的交流參數測試要用到信號源、示波器或時間測試儀，而當前的自動集成電路測試儀(ATE)一般采用的測試方法是：高頻信號脈沖計數的方式，例如：測試上升時間時，用脈沖計數的方法，也就是有一個高頻脈沖，當遇到設定的電壓值后，開始計數，直至遇到另一個設定的電壓值后結束，如果該脈沖的周期是M(ns)，那么，這個過程中總共計了N次數，上升時間就是M*N(ns)。

按照GB/T?17574的要求，上升時間應在高低電平的20％和80％處測試，設定20％處的電壓值為0.5V，從0.5V開始計數，每個脈沖的周期是1NS，假如計數計了12次，到80％處的電壓值4.2V截至，上升時間為12NS，因此該測試方法與頻率和采樣點有關，頻率越高，測試精度也越高，目前，國產ATE普遍頻率較低，而進口ATE價格高，不宜普遍使用；采樣點應由高低電平的百分比(20％、80％)決定，但在ATE測試中，由固定電壓點(0.5V、4.2V)決定，這也導致了測試誤差的增加，普通的國產ATE的交流時間測試誤差高達10nS-20nS。

并且能大批量測試的設備非常昂貴，各測試系統和測試方法存在很難普遍適用的問題，不具備為各種類型的測試對象提供通用的測試。

發明內容

本發明的目的是克服上述現有技術的缺點，提供一種可編程的數字集成電路交流參數測試系統，使集成電路的交流測試系統具備通用性，可為不同類型的測試對象提供通用和特定的測試，從而實現降低產品成本，提高測試精度和測試效率的目的。

為達到上述技術效果，本發明采用如下的技術方案：

一種可編程的數字集成電路交流參數測試系統，該系統包括：

一個可編程電源與被測器件模塊相連為被測模塊提供測試電源，與控制計算機相連；

一個示波器通過探頭檢測測試主板的測試信號，并與控制計算機連接傳輸測試信號；

一個被測器件模塊分別和被側器件和測試主板建立連接，進行數據的交互傳輸；

一個信號源與測試主板連接為測試主板提供時鐘測試信號；

一個控制計算機連接測試主板、可編程電源和示波器；

其特征在于該系統還包括一個測試主板，該主板包括：主板芯片、譯碼電路、信號源繼電器矩陣、測試通道繼電器矩陣、信號處理電路、電源撥盤、譯碼電路，主板芯片與控制計算機進行數據交互，控制譯碼電路對繼電器矩陣和電路進行控制。

較佳的，所述控制計算機并口控制主板芯片，所述主板芯片采用AT89C51芯片，被測器件模塊可根據被測器件的管腳數量進行選定。測試主板連接一指示燈，用于顯示測試結果該系統可臨時編輯測試程序，也可以提前編輯測試程序隨時調用，可對測試程序中測試參數進行調整。

同時本發明基于可編程的數字集成電路交流參數測試系統提出一種可編程的數字集成電路交流參數測試方法，該方法包括以下步驟：

步驟a：安裝被測器件；

步驟b：將測試程序下載至測試主板；

步驟c：控制計算機向測試主板發送開始指令；

步驟d：測試主板根據測試程序中設定測試參數進行測試，并將測試結果與設置參數進行比較，如不相符執行步驟e，如相符執行步驟f；

步驟e：被測器件不合格，將不合格信息反饋控制計算機，并由主板芯片控制指示燈顯示結果；

步驟f：被測器件合格，將合格信息反饋控制計算機，并由主板芯片控制指示燈顯示結果，判斷是否結束測試，若否返回步驟b，若是執行步驟g；

步驟g：結束測試程序。

該方法測試被測器件的交流參數，可編程的數字集成電路交流參數測試系統可臨時編輯測試程序，也可以提前編輯測試程序隨時調用，可對測試程序中測試參數進行調整，該方法可設定參數包括：延遲時間、轉換時間、上升時間、下降時間、建立時間、保持時間、分辨時間、輸出允許時間、輸出禁止時間、存儲器的特定時間等參數以及頻率、周期、高低電平、占空比、幅度、峰峰值測定，正負脈沖寬度，突發脈沖寬度，該方法對計算機實時測量數據進行記錄并對每10次測量結果進行一次平均值計算。

本發明的有益效果：