[發(fā)明專利]一種可編程的數(shù)字集成電路交流參數(shù)測試系統(tǒng)及方法

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010213813.0
• 申請(qǐng)日: 2010-06-26
• 公開（公告）號(hào): CN101865946A
• 公開（公告）日: 2010-10-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王林;李應(yīng)龍;黃美鈺;王耀林;李瀟;王雪梅;楊保書;王鈺中
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 天水天光半導(dǎo)體有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G01R19/00
• 分類號(hào): G01R19/00;G01R23/02
• 代理公司: 甘肅省知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)中心 62100
• 代理人: 周春雷

1.一種可編程的數(shù)字集成電路交流參數(shù)測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：

一個(gè)可編程電源與被測器件模塊相連為被測模塊提供測試電源，與控制計(jì)算機(jī)相連；

一個(gè)示波器通過探頭檢測測試主板的測試信號(hào)，并與控制計(jì)算機(jī)連接傳輸測試信號(hào)；

一個(gè)被測器件模塊分別和被側(cè)器件和測試主板建立連接，進(jìn)行數(shù)據(jù)的交互傳輸；

一個(gè)信號(hào)源與測試主板連接為測試主板提供時(shí)鐘測試信號(hào)；

一個(gè)控制計(jì)算機(jī)連接測試主板、可編程電源和示波器，對(duì)其進(jìn)行控制；

其特征在于該系統(tǒng)還包括一個(gè)測試主板，該主板包括：主板芯片、譯碼電路、信號(hào)源繼電器矩陣、測試通道繼電器矩陣、信號(hào)處理電路、電源撥盤、譯碼電路，主板芯片與控制計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)交互，控制譯碼電路對(duì)繼電器矩陣和電路進(jìn)行控制。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種可編程的數(shù)字集成電路交流參數(shù)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述控制計(jì)算機(jī)并口控制主板芯片。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種可編程的數(shù)字集成電路交流參數(shù)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述主板芯片采用AT89C51芯片。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種可編程的數(shù)字集成電路交流參數(shù)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述被測器件模塊可根據(jù)被測器件的管腳數(shù)量進(jìn)行選定。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種可編程的數(shù)字集成電路交流參數(shù)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試主板連接一指示燈，用于顯示測試結(jié)果。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種可編程的數(shù)字集成電路交流參數(shù)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述可編程的數(shù)字集成電路交流參數(shù)測試系統(tǒng)可臨時(shí)編輯測試程序，也可以提前編輯測試程序隨時(shí)調(diào)用，可對(duì)測試程序中測試參數(shù)進(jìn)行調(diào)整。

7.一種可編程的數(shù)字集成電路交流參數(shù)測試方法，其通過所述的可編程的數(shù)字集成電路交流參數(shù)測試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)，其特征在于，該方法包括以下步驟：

步驟a：安裝被測器件；

步驟b：將測試程序下載至測試主板；

步驟c：控制計(jì)算機(jī)向測試主板發(fā)送開始指令；

步驟d：測試主板根據(jù)測試程序中設(shè)定測試參數(shù)進(jìn)行測試，并將測試結(jié)果與設(shè)置參數(shù)進(jìn)行比較，如不相符執(zhí)行步驟e，如相符執(zhí)行步驟f；

步驟e：被測器件不合格，將不合格信息反饋控制計(jì)算機(jī)，并由主板芯片控制指示燈顯示結(jié)果，執(zhí)行步驟g；

步驟f：被測器件合格，將合格信息反饋控制計(jì)算機(jī)，并由主板芯片控制指示燈顯示結(jié)果，判斷是否結(jié)束測試，若否返回步驟b，若是執(zhí)行步驟g；

步驟g：結(jié)束測試程序。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述一種可編程的數(shù)字集成電路交流參數(shù)測試方法，其特征在于，該方法測試被測器件的交流參數(shù)。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述一種可編程的數(shù)字集成電路交流參數(shù)測試方法，其特征在于，該方法可設(shè)定參數(shù)包括：延遲時(shí)間、轉(zhuǎn)換時(shí)間、上升時(shí)間、下降時(shí)間、建立時(shí)間、保持時(shí)間、分辨時(shí)間、輸出允許時(shí)間、輸出禁止時(shí)間、存儲(chǔ)器的特定時(shí)間等參數(shù)以及頻率、周期、高低電平、占空比、幅度、峰峰值測定，正負(fù)脈沖寬度，突發(fā)脈沖寬度。

10.根據(jù)權(quán)利要求7所述一種可編程的數(shù)字集成電路交流參數(shù)測試方法，其特征在于，該方法對(duì)計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)測量數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄并對(duì)每10次測量結(jié)果進(jìn)行一次平均值計(jì)算。