[發明專利]Lyot消偏器消偏性能測試裝置及方法及陀螺系統無效
| 申請號: | 201010199663.2 | 申請日: | 2010-06-08 |
| 公開(公告)號: | CN101881627A | 公開(公告)日: | 2010-11-10 |
| 發明(設計)人: | 伊小素;張春熹;宋鏡明;張晨;馬東營;金靖;徐宏杰 | 申請(專利權)人: | 北京航空航天大學 |
| 主分類號: | G01C25/00 | 分類號: | G01C25/00;G01C19/72 |
| 代理公司: | 北京凱特來知識產權代理有限公司 11260 | 代理人: | 鄭立明;趙鎮勇 |
| 地址: | 100083*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | lyot 消偏器消偏 性能 測試 裝置 方法 陀螺 系統 | ||
1.一種Lyot消偏器消偏性能測試裝置,其特征在于,包括:
Lyot消偏器的輸入端與光源連接,Lyot消偏器的輸出端與偏振控制器的傳輸A端熔接,偏振控制器的傳輸B端與Y波導熔接,Y波導的輸出端接入光功率計;
所述偏振控制器為能將任意輸入光偏振態轉變為任意期望輸出光偏振態的器件,包括多個光纖圈。
2.根據權利要求1所述的Lyot消偏器消偏性能測試裝置,其特征在于,所述的光源為輸出波長為850nm的低偏振度超輻射發光二極管。
3.根據權利要求2所述的Lyot消偏器消偏性能測試裝置,其特征在于,所述Lyot消偏器包括在所述光源的尾纖后,以45°熔接一段長度為所述尾纖長度的兩倍的保偏光纖。
4.一種應用如權利要求1至3任一項所述的Lyot消偏器消偏性能測試裝置進行Lyot消偏器消偏性能測試的方法,其特征在于,包括:
通過調節所述Lyot消偏器消偏性能測試裝置的偏振控制器上的各光纖圈的角度,同時觀察所述光功率計上顯示的輸出光強讀數,來判斷所述Lyot消偏器的消偏效果;
當所述光功率計檢測到的光強讀數的變化在設定的范圍之內,則認定所述Lyot消偏器的消偏效果達到要求;
當所述光功率計檢測到的光強讀數的變化不在設定的范圍之內,則認定所述Lyot消偏器的消偏效果未達到要求,則調整所述Lyot消偏器的結構參數后繼續進行上述測試。
5.一種陀螺系統,其特征在于,該陀螺系統包括經過權利要求4所述的Lyot消偏器消偏性能測試的方法測試過的Lyot消偏器。
6.根據權利要求5所述的陀螺系統,其特征在于,經過測試達到消偏要求的Lyot消偏器與如權利要求1至3任一項所述的Lyot消偏器消偏性能測試裝置中的光源形成一個整體接入所述陀螺系統。
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