[發(fā)明專利]一種高頻電路輻射電磁干擾分析方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010182263.0 | 申請日： | 2010-05-25 |
| 公開（公告）號： | CN101839949A | 公開（公告）日： | 2010-09-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 褚家美;趙陽;羅永超;顏偉;李世錦 | 申請（專利權(quán)）人： | 東南大學(xué) |
| 主分類號： | G01R29/08 | 分類號： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 南京蘇高專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 柏尚春 |
| 地址： | 210009 江蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 高頻 電路 輻射 電磁 干擾 分析 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及的是對高頻電路輻射電磁干擾(EMI)特性分析方法，具體說是基于盲信號分析方法對高頻電路的EMI輻射源進(jìn)行搜索定位，根據(jù)源定位結(jié)果對EMI輻射源進(jìn)行特性診斷，屬于電磁兼容技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
目前電力電子產(chǎn)品的EMI問題越來越突出，這一方面是因為高頻器件被廣泛應(yīng)用與產(chǎn)品之中，另一方面是由于產(chǎn)品的復(fù)雜化、微型化程度越來越高，所以高頻電路的輻射EMI解決方法變得日趨重要。然而，可用于高頻電路的輻射EMI解決方法種類繁多，輻射EMI抑制方法也多種多樣，可見省時省力的選擇有效的輻射EMI解決方案勢在必行。
對高頻電路輻射電磁干擾的分析通常采用遠(yuǎn)場測量或近場測量，其中，遠(yuǎn)場測量方法即是采用開闊場(OATS)測量或者電波暗室(Anechoic?chamber)對被測電路進(jìn)行測量的方法，但OATS或電波暗室造價昂貴且建造周期較長，同時測量費用較高。近場測量即是采用近場電磁場測量系統(tǒng)對被測電路的EMI進(jìn)行測量(如HITACHI生產(chǎn)的EMI?TESTER系列等)，但此類系統(tǒng)只能給出被測電路的輻射場強(qiáng)大小的結(jié)果，卻不能對這些高頻電路的特性(即輻射源由電場引起的還是由磁場引起的)給出說明。同時此類系統(tǒng)的測量方式為掃描式測量，即需要對高頻電路的整個區(qū)域進(jìn)行逐點掃描，因此測量過程較為耗時。此外上述近場電磁場測量系統(tǒng)的價格也較為昂貴，推廣應(yīng)用比較困難。
發(fā)明內(nèi)容
技術(shù)問題：本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題，在于克服現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷，提出一種高頻電路輻射電磁干擾分析方法。該方法首先通過盲信號分析方法對被測高頻電路中的輻射源進(jìn)行區(qū)分，然后直接利用近場探頭對輻射源進(jìn)行頻域測量，即可得出待測高頻電路的輻射EMI是由共模輻射引起，還是由差模輻射引起，而不需要對整個被測電路進(jìn)行掃描。
技術(shù)方案：基于盲信號分析的高頻電路輻射電磁干擾分析方法原理，當(dāng)多個信號源之間相互獨立時，利用盲信號處理技術(shù)可以對這些信號源產(chǎn)生的混合信號進(jìn)行重構(gòu)，最后可獲得單個信號源產(chǎn)生的信號。
對于高頻電路的輻射電磁干擾來說，電路中往往有多個輻射源，因此通常將這些輻射源等效為電偶極子和磁偶極子進(jìn)行分析，即電偶極子共模輻射源和磁偶極子差模輻射源。如圖1(a)所示為任意兩個電偶極子在空間某位置處沿徑向傳播方向的電場強(qiáng)度示意圖。圖1(b)為任意兩個磁偶極子在空間某位置處沿徑向傳播方向的磁場強(qiáng)度示意圖。由圖可知，電偶極子在空間某位置處產(chǎn)生的復(fù)合場強(qiáng)大小為：
磁偶極子在空間某位置處產(chǎn)生的復(fù)合場強(qiáng)大小為：
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