[發(fā)明專利]檢測顆粒檢測儀光探測器工作點(diǎn)的裝置及方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010174051.8 | 申請日： | 2010-05-11 |
| 公開（公告）號： | CN101852712A | 公開（公告）日： | 2010-10-06 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 陳曉涌;盛新志;馮震;姜上尉;黃宇軍 | 申請（專利權(quán)）人： | 北京交通大學(xué) |
| 主分類號： | G01N15/00 | 分類號： | G01N15/00;G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京市商泰律師事務(wù)所 11255 | 代理人： | 麻吉鳳;毛燕生 |
| 地址： | 100044 北*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 檢測 顆粒 探測器 工作 裝置 方法 | ||
1.一種檢測顆粒檢測儀光探測器工作點(diǎn)的裝置，其特征在于，包括：
依據(jù)預(yù)定位置依次布置的激光器、外調(diào)制裝置、柱透鏡組、樣品池、聚焦透鏡和光探測器；其中，所述外調(diào)制裝置用于產(chǎn)生檢測信號，并將所述檢測信號加載到激光器發(fā)出的激光束上；
所述裝置還包括示波器和處理電路，所述光探測器通過信號線分別與所述示波器、所述處理電路相連接，用于將來自于所述外調(diào)制裝置的所述檢測信號顯示到所述示波器上并在所述處理電路上進(jìn)行處理。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測顆粒檢測儀光探測器工作點(diǎn)的裝置，其特征在于，所述激光器與所述外調(diào)制裝置之間還設(shè)置有準(zhǔn)直裝置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測顆粒檢測儀光探測器工作點(diǎn)的裝置，其特征在于，所述外調(diào)制裝置為電光調(diào)制裝置、聲光調(diào)制裝置或磁光調(diào)制裝置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測顆粒檢測儀光探測器工作點(diǎn)的裝置，其特征在于，所述激光器為半導(dǎo)體激光器，所述半導(dǎo)體激光器的功率為1～10瓦。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測顆粒檢測儀光探測器工作點(diǎn)的裝置，其特征在于，所述光探測器為光電二極管。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測顆粒檢測儀光探測器工作點(diǎn)的裝置，其特征在于，所述樣品池為長方體，所述樣品池設(shè)置有透光窗口。
7.一種檢測顆粒檢測儀光探測器工作點(diǎn)的方法，其特征在于，
所述方法基于檢測顆粒檢測儀光探測器工作點(diǎn)的裝置，所述裝置包括，依據(jù)預(yù)定位置依次布置的激光器、外調(diào)制裝置、柱透鏡組、樣品池、聚焦透鏡和光探測器；所述裝置還包括示波器和處理電路，所述光探測器通過信號線分別與所述示波器、所述處理電路相連接；所述方法包括如下步驟：
開啟所述激光器，所述外調(diào)制裝置與所述示波器，調(diào)制所述外調(diào)制裝置，使調(diào)制信號為預(yù)定形狀波形，由小到大逐漸調(diào)節(jié)所述激光器的輸出功率，直至觀察到的所述輸出波形與所述預(yù)定形狀波形相比出現(xiàn)畸變；觀察到的所述輸出波形與所述預(yù)定形狀波形相比未出現(xiàn)畸變時，所述檢測顆粒檢測儀光探測器的工作點(diǎn)位于線性區(qū)；觀察到的所述輸出波形與所述預(yù)定形狀波形相比出現(xiàn)畸變時，所述檢測顆粒檢測儀光探測器的工作點(diǎn)位于非線性區(qū)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測顆粒檢測儀光探測器工作點(diǎn)的方法，其特征在于，所述預(yù)定形狀的波形為正三角形。
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