[發明專利]一種能有效抗灰跡的KTP晶體的制備方法無效
| 申請號: | 201010171911.2 | 申請日: | 2010-05-14 |
| 公開(公告)號: | CN102242389A | 公開(公告)日: | 2011-11-16 |
| 發明(設計)人: | 董勝明;馮彧;翟仲軍;嚴振華;李杰;劉萌 | 申請(專利權)人: | 山東華特中晶光電科技有限公司 |
| 主分類號: | C30B9/08 | 分類號: | C30B9/08;C30B29/14 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 250101 山東省濟*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 有效 抗灰跡 ktp 晶體 制備 方法 | ||
1.一種有效抗灰跡的KTP晶體的制備方法,其特征在于:
方法步驟如下:
1)采用頂端籽晶+提拉的方法,緩慢降溫,稍高一點提速;
2)提高熔質濃度45%,提高其實生長溫度;
3)溶劑組成提高;
4)用[100]方向籽晶,單生長區,減少晶體中扇形界;
5)添加PbO,起始生長溫度~1007℃,降溫78℃,0.5~3℃/天,45天,拉速0.1~0.9mm/天,正反轉動60~20rpm。
2.如權利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述溶劑組成提高為K6助溶劑。
3.如權利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述[PbO]/[K6]=0.5,起始生長溫度~1007℃,降溫78℃,0.5~3℃/天,45天,拉速0.1~0.9mm/天,正反轉動60~20rpm。
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