[發明專利]等效全向靈敏度測試方法和裝置

有效

• 申請號: 201010159302.5
• 申請日: 2010-04-26
• 公開（公告）號: CN102237933A
• 公開（公告）日: 2011-11-09
• 發明（設計）人: 李文;謝輝
• 申請（專利權）人: 深圳市鼎立方無線技術有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00;H04B1/38
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 廖元秋

1.一種等效全向靈敏度EIS測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

在多個空間位置對移動終端進行等效全向輻射功率EIRP測量，以獲得所述多個空間位置對應的多個EIRP測量值；

以所述多個空間位置中的任一個空間位置作為基準空間位置對所述移動終端進行EIS測量，以獲得對應所述基準空間位置的EIS測量值；

從所述多個空間位置中選擇任一個空間位置作為待測量空間位置，并根據所述基準空間位置的EIS測量值和EIRP測量值，以及所述待測量空間位置所對應的EIRP測量值，獲得所述待測量空間位置的EIS計算值；和

以所述EIS計算值作為估計值對所述待測量空間位置進行EIS測量，得到所述待測量空間位置的EIS測量值。

2.如權利要求1所述的EIS測試方法，其特征在于，所述根據基準空間位置的EIS測量值和EIRP測量值以及所述待測量空間位置所對應的EIRP測量值，獲得所述待測量空間位置的EIS計算值包括：

根據公式EIS_j＝EIS_{_b}-(EIRP_j-EIRP_{_b})獲得所述待測量空間位置的EIS計算值，其中，j為待測量空間位置，b為基準空間位置。

3.如權利要求2所述的EIS測試方法，其特征在于，所述公式通過以下步驟獲得：

根據等效全向靈敏度與輻射靈敏度以及移動終端天線在對應空間位置方向的增益的關系，獲得所述多個空間位置中任意兩個空間位置的等效全向靈敏度與對應增益之間的關系；

根據等效全向輻射功率與移動終端天線的傳導發射功率、實際發射功率以及在對應空間位置方向的增益的關系，獲得所述多個空間位置中任意兩個空間位置的等效全向輻射功率與對應增益之間的關系；以及

根據所述任意兩個空間位置的等效全向靈敏度與對應增益之間的關系和所述任意兩個空間位置的等效全向輻射功率與對應增益之間的關系，得到任意兩個空間位置的等效全向靈敏度與對應所述任意兩個空間位置的等效全向輻射功率之間的關系。

4.如權利要求1-3任一項所述的EIS測試方法，其特征在于，所述以EIS計算值作為估計值對所述待測量空間位置進行EIS測量，得到所述待測量空間位置的EIS測量值包括：

以所述待測量空間位置的EIS計算值作為估計值，并以所述估計值作為初始值進行誤碼率測量；

判斷測量的誤碼率是否滿足目標誤碼率要求，如果不滿足目標誤碼率要求則根據測量結果進一步調整所述初始值，直至測量的誤碼率滿足目標誤碼率要求，并得到所述待測量空間位置的EIS測量值。

5.如權利要求4所述的EIS測試方法，其特征在于，以0.01-0.2dBm的步長調整所述初始值。

6.如權利要求1所述的EIS測試方法，其特征在于，所述基準空間位置和所述待測量空間位置既滿足EIRP測量要求又滿足EIS測量要求。

7.一種EIS測試裝置，其特征在于，包括：

EIRP測量模塊，用于在多個空間位置對移動終端進行EIRP測量，以獲得所述多個空間位置對應的多個EIRP測量值；

EIS測量模塊，用于以所述多個空間位置中的任一個空間位置作為基準空間位置對所述移動終端進行EIS測量，以獲得對應所述基準空間位置的EIS測量值，以及以EIS計算模塊獲得的EIS計算值作為估計值對待測量空間位置進行EIS測量，得到所述待測量空間位置的EIS測量值；和

EIS計算模塊，用于從所述多個空間位置中選擇任一個空間位置作為待測量空間位置，并根據所述基準空間位置的EIS測量值和EIRP測量值，以及所述待測量空間位置所對應的EIRP測量值，獲得所述待測量空間位置的EIS計算值。

8.如權利要求7所述的EIS測試裝置，其特征在于，所述EIS計算模塊根據公式EIS_j＝EIS_{_b}-(EIRP_j-EIRP_{_b})獲得所述待測量空間位置的EIS計算值，其中，j為待測量空間位置，b為基準空間位置。