[發明專利]盤檢查裝置有效
| 申請號： | 201010156929.5 | 申請日： | 2010-03-30 |
| 公開（公告）號： | CN101937696A | 公開（公告）日： | 2011-01-05 |
| 發明（設計）人： | 久保充正;親松剛 | 申請（專利權）人： | 蒂雅克股份有限公司 |
| 主分類號： | G11B20/18 | 分類號： | G11B20/18 |
| 代理公司： | 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219 | 代理人： | 謝麗娜;關兆輝 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 檢查 裝置 | ||
1.一種盤檢查裝置，其特征在于，具有：
用于檢測從盤重放的數據的規定區間中的糾錯數PIE和無法糾錯數PIF的機構；
通過將上述糾錯數PIE和上述無法糾錯數PIF分別與規定的閾值進行大小比較而將上述盤識別為正常的盤、有損傷的盤、抖動性劣化的盤中的任一種的識別機構；以及
輸出識別結果的機構。
2.一種盤檢查裝置，其特征在于，具有：
用于檢測從盤重放的數據的規定區間中的糾錯數PIE和無法糾錯數PIF的機構；
通過將上述糾錯數PIE和上述無法糾錯數PIF分別與第一閾值、第二閾值進行大小比較而將上述盤識別為正常的盤、可研磨盤、無法研磨盤中的任一種的識別機構；以及
輸出識別結果的機構。
3.如權利要求1或2所述的盤檢查裝置，其特征在于，上述識別機構將上述規定區間中的上述糾錯數PIE的最小值或平均值與上述第一閾值進行比較，并將上述無法糾錯數PIF的最大值與上述第二閾值進行大小比較。
4.如權利要求3所述的盤檢查裝置，其特征在于，上述識別機構在上述糾錯數PIE的最小值或平均值超過上述第一閾值時，將上述盤識別為抖動性劣化盤或無法研磨盤；在上述無法糾錯數PIF的最大值為第二閾值以下且上述糾錯數PIE的最小值或平均值為上述第一閾值以下時，將上述盤識別為正常的盤；在上述糾錯數PIE的最小值或平均值為上述第一閾值以下且上述無法糾錯數PIF的最大值超過上述第二閾值時，將上述盤識別為有損傷的盤或可研磨盤。
5.如權利要求1至4中任一項所述的盤檢查裝置，其特征在于，還具有相應于輸出的上述識別結果將上述盤分到多個堆料機中的某一個中的載入器。
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