[發明專利]深凹曲面上導電網格相對電阻接觸測量頭及其測量方法

無效

• 申請號: 201010144774.3
• 申請日: 2010-04-13
• 公開（公告）號: CN101833038A
• 公開（公告）日: 2010-09-15
• 發明（設計）人: 馮曉國;高勁松;梁鳳超;趙晶麗
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 長春菁華專利商標代理事務所 22210
• 代理人: 王立偉

1.深凹曲面上導電網格相對電阻接觸測量頭，其特征在于：該電阻接觸測量頭包括電極(1)、卡簧(2)、滑桿(3)、壓簧(4)、外套(5)、絕緣柱(6)、連桿(7)、小孔(8)、走線槽(9)；

各部件的位置及連接關系：

電極(1)安裝在卡簧(2)上，并且可隨凹面曲率微調與待測導電網格接觸面積，支撐卡簧(2)通過壓簧(4)調節接觸應力的滑桿(3)，外套(5)為電極(1)和滑桿(3)提供支撐和運動導向，絕緣柱(6)支撐壓簧(4)，由連桿(7)將電阻接觸測量頭與外機構連接。

2.根據權利要求1所述的深凹曲面上導電網格相對電阻接觸測量頭，其特征在于，所述電極(1)為球頭，電極(1)尾端有一個小孔(8)焊接導線。

3.根據權利要求1所述的深凹曲面上導電網格相對電阻接觸測量頭，其特征在于，所述外套(5)上設有一凹槽為走線槽(9)。

4.根據權利要求1所述的深凹曲面上導電網格相對電阻接觸測量頭的測量方法，其特征在于：測量頭做兩套并通過連桿(7)連接成一分規形式，從外套(5)的走線槽(9)引出的導線與萬用表筆相連，兩個測量頭引出的導線分別連接兩個表筆，手持連桿(7)，用手施壓使測頭電極與凹面隨形并與導電網格膜層接觸良好，測得電阻值，與平面已知電阻膜層比對測量實現曲面導電網格膜層電阻的相對測量。

5.根據權利要求1所述的深凹曲面上導電網格相對電阻接觸測量頭的測量方法，其特征在于：測量頭做兩套并通過連桿(7)連接成一分規形式，每次測量都固定成一個角度，角度范圍為5-90°。