[發(fā)明專利]用于診斷集成電路的方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010142003.0
• 申請日: 2010-03-23
• 公開（公告）號: CN101846724A
• 公開（公告）日: 2010-09-29
• 發(fā)明（設計）人: 唐健霖;張簡維平;劉欽洲
• 申請（專利權）人: 臺灣積體電路制造股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京市德恒律師事務所 11306
• 代理人: 梁永

1.一種用于診斷集成電路的裝置，包括：

多個觸發(fā)器，被配置成用于測試的掃描鏈設計；

緩沖器鏈，具有多個緩沖器，所述緩沖器鏈可通信地連接至所述多個觸發(fā)器中的第一觸發(fā)器；

第一診斷單元，可通信地與所述緩沖器鏈串聯(lián)連接，其被配置成接收來自所述緩沖器鏈中的第一中間緩沖器的緩沖器鏈輸出信號、第一輸入信號、以及第二輸入信號，并且產(chǎn)生指示所述集成電路的操作狀態(tài)的診斷信號；以及

第二中間緩沖器，被配置成接收所述診斷信號并且將所述診斷信號發(fā)送至所述多個觸發(fā)器中的第二觸發(fā)器。

2.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其中，所述第一診斷單元包括：

第一邏輯運算器，可通信地連接至第二邏輯運算器，所述第一邏輯運算器被配置成接收所述第一輸入信號和所述第二輸入信號，并且作為響應，產(chǎn)生第一邏輯運算符輸出信號；

第二邏輯運算器，被配置成接收所述緩沖器鏈輸出信號和所述第一邏輯運算符輸出信號，并且作為響應，產(chǎn)生所述診斷信號；

其中，所述第一邏輯運算器和所述第二邏輯運算器具有被配置成響應于所述第一輸入信號和所述第二輸入信號使所述緩沖器鏈輸出信號通過的多個第一邏輯門，并且具有被配置成響應于所述第一輸入信號和所述第二輸入信號使所述緩沖器鏈輸出信號反相的多個第二邏輯門。

3.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其中，所述第一輸入信號包括診斷使能信號，所述診斷使能信號具有診斷單元使能狀態(tài)和診斷單元非使能狀態(tài)，所述第二輸入信號包括具有反相狀態(tài)和非反相狀態(tài)的控制信號。

4.根據(jù)權利要求1所述的裝置，進一步包括：所述多個觸發(fā)器中的第三觸發(fā)器，將所述第二輸入信號輸出至所述第一診斷單元；以及第二診斷單元，被可通信地連接以接收來自所述緩沖器鏈中的第三中間緩沖器的輸入信號，并且產(chǎn)生驅(qū)動所述緩沖器鏈中的第四中間緩沖器的第二診斷信號。

5.一種用于診斷集成電路的裝置，包括：

診斷單元，包括連接至第二邏輯運算器的第一邏輯運算器，所述第一邏輯運算器被配置成接收第一輸入信號和第二輸入信號，并且作為響應，產(chǎn)生第一邏輯運算符輸出信號；以及

第二邏輯運算器，被配置成接收第三輸入信號和所述第一邏輯運算符輸出信號，并且作為響應，產(chǎn)生表示所述集成電路中給定位置處的操作狀態(tài)的診斷信號。

6.根據(jù)權利要求5所述的裝置，進一步包括：緩沖器鏈中的第一中間緩沖器，將所述第三輸入信號輸出至所述第二邏輯運算器，所述第二邏輯運算器將所述診斷信號輸出至所述緩沖器鏈中的第二中間緩沖器；以及第一中間電路元件，將所述第三輸入信號輸出至所述第二邏輯運算器，所述第二邏輯運算器將所述診斷信號輸出至第二中間電路元件。

7.根據(jù)權利要求5所述的裝置，進一步包括：第一觸發(fā)器，將所述第二輸入信號輸出至所述第一邏輯運算器，以及第二觸發(fā)器，被配置成接收所述診斷信號。

8.根據(jù)權利要求5所述的裝置，其中，所述第一輸入信號包括具有診斷單元使能狀態(tài)和診斷單元非使能狀態(tài)的診斷使能信號。

9.根據(jù)權利要求5所述的裝置，其中，所述第二輸入信號包括具有反相狀態(tài)和非反相狀態(tài)的控制信號。

10.根據(jù)權利要求5所述的裝置，其中，所述第一邏輯運算器和所述第二邏輯運算器包括被配置成響應于所述第一輸入信號和所述第二輸入信號使所述第三輸入信號通過的多個第一邏輯門，所述第一邏輯運算器和所述第二邏輯運算器包括被配置成響應于所述第一輸入信號和所述第二輸入信號使所述第三輸入信號反相的多個第二邏輯門。

11.一種用于診斷集成電路的方法，包括：

使用掃描鏈測試圖案測試所述集成電路；

如果所述測試表明所述集成電路不像設計的那樣執(zhí)行，則激活所述集成電路內(nèi)的一個或多個位置處的一個或多個診斷單元；

使用所述掃描鏈測試圖案重新測試所述集成電路，所述一個或多個診斷單元使所述集成電路中的操作信號選擇性地反相；以及

基于所述集成電路的重新測試識別所述一個或多個位置中的第一位置處的操作狀態(tài)。