[發明專利]利用光纖對電網高壓局部放電進行探測及定位的方法

無效

• 申請號: 201010137561.8
• 申請日: 2010-04-01
• 公開（公告）號: CN101813742A
• 公開（公告）日: 2010-08-25
• 發明（設計）人: 賈波;肖倩;張毅;許海燕
• 申請（專利權）人: 復旦大學
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12;G02B6/26
• 代理公司: 上海正旦專利代理有限公司 31200
• 代理人: 陸飛;盛志范

1.一種利用光纖對電網高壓局部放電進行探測和定位的方法，其特征在于采用單芯反饋式白光干涉結構，利用信號中的干涉光路所獲得的信號頻率成分特性來確定高壓放電的位置，其中：

干涉光路由N*M耦合器(1)、P*Q耦合器(2)、光纖延遲器(3)，光纖(4)和反饋裝置(6)構成；1a1、1a2、…、1aN、1b1、1b2為N*M耦合器(1)的端口，1a1、1a2、…、1aN是同向端口，共N個，1b1、1b2是N*M耦合器(1)的另一組M個同向端口中的兩個端口；2a1、2a2、2b1為P*Q耦合器(2)的端口，2a1、2a2是P*Q耦合器(2)的一組P個同向端口中的兩個端口，2b1是P*Q耦合器(2)的另一組Q個同向端口中的一個端口；光纖(4)沿著所要監測的電網設施布設，用來感應局部高壓放電；反饋裝置(6)使沿光纖傳輸來的光重新進入光纖(4)返回到P*Q耦合器(2)；光源為寬帶光源；光源經N*M耦合器(1)的端口1a1輸入，經N*M耦合器(1)分光后分別經端口1b1、1b2輸出，形成兩光路：

I：1b1→3→2a1→2b1→4→6→4→2b1→2a2→1b2

II：1b2→2a2→2b1→4→6→4→2b1→2a1→3→1b1

這里箭頭表示光的傳輸方向，標號表示該標號所代表的部件；在N*M耦合器(1)處重新會合，發生干涉，干涉信號分別經端口1a1、1a2、…、1aN輸出。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于從光源的輸入端口取出干涉信號的光路連接方式如下，光源通過環形器(7)，或耦合器(8)與N*M耦合器(1)的端口1a1相連；7a、7b、7c為環形器(7)的端口，8a、8b、8c為耦合器(8)的端口，其中8b與8a為同向端口，從端口7b或8b即可取出干涉信號。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于根據所述光路結構特性從陷波點與局部高壓放電位置的如下關系確定放電位置：

fnull(k)=k2·c2neffL,]]>(k＝2n-1，n∈N)

其中，f_null(k)為k階陷波點的頻率，n_eff為光纖的有效折射率，c為光速，L為放電感應點(5)與反饋裝置(6)的光纖長度。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于所述的光源為SLD或ASE光源。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于所述的N*M耦合器(1)和P*Q耦合器(2)是光纖熔融拉錐型或波導型。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于所述的反饋裝置為由光纖末端鍍反射膜實現或由帶有尾纖的、由分立光學器件實現的反射裝置，或者為法拉第旋轉反射鏡。