[發明專利]氮化鎵異質結肖特基二極管有效
| 申請號: | 201010128896.3 | 申請日: | 2010-02-10 |
| 公開(公告)號: | CN101840938A | 公開(公告)日: | 2010-09-22 |
| 發明(設計)人: | 朱廷剛 | 申請(專利權)人: | 萬國半導體有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/872 | 分類號: | H01L29/872;H01L21/329 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人: | 王敏杰 |
| 地址: | 美國加利福尼亞*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 氮化 鎵異質結肖特基 二極管 | ||
1.一種氮化鎵半導體二極管,包括:
一個襯底;
一個形成在襯底上的GaN層;
一個形成在GaN層上的AlGaN層,GaN層和AlGaN層構成二極管的陰極區;
一個形成的在AlGaN層上的金屬層,一同構成一個肖特基結,金屬層作為二極管的陽極電極;
一個形成在AlGaN層的頂部表面中的高勢壘區,位于金屬層的一個邊緣下方,高勢壘區的帶隙能量高于AlGaN層,或高勢壘區的電阻率比AlGaN層更大。
2.權利要求1所述的二極管,其特征在于,所述的高勢壘區由AlGaN層組成,所述的AlGaN層中植入Mg、Cd、Zn、Ca、N、O、C、Ar或一個二氧化硅層。
3.權利要求1所述的二極管,其特征在于,進一步包括一個形成在AlGaN層上的介質層,所述的介質層帶有一個開口,金屬層在開口中作為陽極電極。
4.權利要求3所述的二極管,其特征在于,所述的高勢壘區從介質層下面延伸,穿過金屬層邊緣,部分延伸到陽極電極下方。
5.權利要求1所述的二極管,其特征在于,所述的襯底是由絕緣襯底組成。
6.權利要求1所述的二極管,其特征在于,所述的襯底是由導電襯底組成。
7.權利要求6所述的二極管,其特征在于,進一步包括:
GaN層和AlGaN層中形成的歐姆接觸,這個歐姆接觸作為陰極電極;
一個形成在GaN層和AlGaN層中的通孔,將此歐姆接觸電連接到導電襯底上。
8.權利要求1所述的二極管,其特征在于,所述的襯底是由絕緣襯底組成。
9.權利要求3所述的二極管,其特征在于,進一步包括:
一個形成在介質層中的場板結構,并且所述的場板結構在金屬層和AlGaN層交界處包圍著金屬層,所述的場板結構還含有減薄厚度的介質層的延伸部分,在金屬層和AlGaN層的交界處延伸到金屬層中。
10.權利要求1所述的二極管,其特征在于,所述的高勢壘區含有第一高勢壘區和第二高勢壘區,分別位于金屬層第一個邊緣和第二個邊緣下面,所述的金屬層含有第一金屬層,位于第一高勢壘區的內邊界和第二高勢壘區的內邊界之間,以及第二金屬層,位于第一金屬層上面,并包圍著第一金屬層。
11.權利要求10所述的二極管,其特征在于,所述的第一金屬層和第二金屬層都是由同種肖特基金屬構成。
12.權利要求10所述的二極管,其特征在于,所述的第一金屬層是由第一肖特基金屬構成,所述的第二金屬層是由第二肖特基金屬構成,第一肖特基金屬的肖特基勢壘高度低于第二肖特基金屬。
13.權利要求1所述的二極管,其特征在于,所述的高勢壘區是通過離子注入到AlGaN層、擴散進入AlGaN層,或等離子暴露的方法形成的。
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