[發(fā)明專利]線缺陷判斷裝置及線缺陷判斷方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010120070.2
• 申請(qǐng)日: 2010-03-05
• 公開（公告）號(hào): CN102193258A
• 公開（公告）日: 2011-09-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 梁艷峰;黃賢軍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海天馬微電子有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/1362
• 分類號(hào): G02F1/1362;G02F1/13
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 李麗

1.一種平面顯示裝置的線缺陷判斷裝置，其特征在于，所述線缺陷判斷裝置設(shè)置于所述平面顯示裝置的短路棒區(qū)域和顯示區(qū)域之間，其包括：

金屬層；

有源層，覆蓋金屬層，并且有源層和顯示裝置的驅(qū)動(dòng)線連接，所述有源層在金屬層加電時(shí)導(dǎo)通所述顯示裝置的驅(qū)動(dòng)線。

2.如權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置的線缺陷判斷裝置，其特征在于，所述金屬層為柵極金屬層。

3.如權(quán)利要求2所述的平面顯示裝置的線缺陷判斷裝置，其特征在于，所述柵極金屬層的金屬為鋁或鋁釹合金。

4.如權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置的線缺陷判斷裝置，其特征在于，所述金屬層位于有源層之上或者位于有源層之下。

5.如權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置的線缺陷判斷裝置，其特征在于，所述與有源層連接的顯示裝置的驅(qū)動(dòng)線為數(shù)據(jù)線或者掃描線。

6.如權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置的線缺陷判斷裝置，其特征在于，所述有源層為非晶硅層。

7.如權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置的線缺陷的判斷裝置，其特征在于，所述金屬層與所述短路棒位于同一層。

8.一種應(yīng)用權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的線缺陷判斷裝置判斷線缺陷的方法，其特征在于，包括下述步驟：

對(duì)所述平面顯示裝置的驅(qū)動(dòng)線加電，判斷是否產(chǎn)生斷線現(xiàn)象；

若有驅(qū)動(dòng)線產(chǎn)生斷線現(xiàn)象，則對(duì)所述線缺陷判斷裝置的金屬層加電，判斷所述驅(qū)動(dòng)線的斷線現(xiàn)象是否消除；

若所述驅(qū)動(dòng)線的斷線現(xiàn)象消除，則判定所述驅(qū)動(dòng)線的斷線位置在短路棒區(qū)域，反之，則判定所述驅(qū)動(dòng)線的斷線位置在外圍區(qū)域。

9.如權(quán)利要求8所述的判斷線缺陷的方法，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)線產(chǎn)生斷線現(xiàn)象是指在黑畫面顯示模式下，所述驅(qū)動(dòng)線斷線顯示為亮線。

10.如權(quán)利要求8所述的判斷線缺陷的方法，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)線為掃描線或者數(shù)據(jù)線。

11.一種液晶顯示裝置的線缺陷判斷方法，其特征在于，包括下述步驟：

通過短路棒對(duì)所述液晶顯示裝置的驅(qū)動(dòng)線加電，判斷是否出現(xiàn)驅(qū)動(dòng)線斷線顯示；

若出現(xiàn)斷線顯示，在所述液晶顯示裝置的短路棒區(qū)域外導(dǎo)通所有驅(qū)動(dòng)線，判斷所述驅(qū)動(dòng)線的斷線顯示是否消除；

若所述驅(qū)動(dòng)線的斷線顯示消除，則判定所述驅(qū)動(dòng)線的斷線位置在短路棒區(qū)域，反之，則判定所述驅(qū)動(dòng)線的斷線位置在外圍區(qū)域。

12.如權(quán)利要求11所述的液晶顯示裝置的線缺陷判斷方法，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)線產(chǎn)生斷線顯示是指在黑畫面顯示模式下，所述驅(qū)動(dòng)線斷線顯示為亮線。

13.如權(quán)利要求11所述的液晶顯示裝置的線缺陷判斷方法，其特征在于，所述導(dǎo)通所有驅(qū)動(dòng)線包括通過激發(fā)電子導(dǎo)通所有驅(qū)動(dòng)線。