[發明專利]透明材料的厚度檢測方法和裝置

無效

• 申請號: 201010104026.2
• 申請日: 2010-01-25
• 公開（公告）號: CN101762238A
• 公開（公告）日: 2010-06-30
• 發明（設計）人: 徐熙平;張寧;喬楊
• 申請（專利權）人: 長春理工大學
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 劉芳

技術領域

本發明實施例涉及測量技術領域，尤其涉及一種透明材料的厚度檢測方法和裝置。

背景技術

玻璃容器的壁厚是直接影響容器質量的重要特征參數，在玻璃容器的生產過程中，對玻璃容器的壁厚進行準確、快速的測量，是提高玻璃容器質量的前提條件。

現有技術中可以使用接觸式測量技術對玻璃容器的壁厚進行測量，并且在石英管壁厚的測量方法，采用激光掃描技術研制開發了小測量范圍的壁厚測量系統，且上述的玻璃容器壁厚測量設備大多只能以抽檢的方式對石英管壁厚進行測量。

在實現本發明過程中，發明人發現現有技術中至少存在如下問題：現有技術中的無法實現對生產過程中的玻璃容器等透明材料的壁厚進行快速、準確的在線測量。

發明內容

本發明實施例提供一種透明材料的厚度檢測方法和裝置，用以實現對生產過程中的透明材料的壁厚進行快速、準確的在線測量。

本發明實施例提供了一種透明材料的厚度檢測裝置，包括光學測量系統、光學分析系統和數據處理系統，其中

光學測量系統包括寬帶光源、輸入光纖、光纖耦合器、接收光纖以及包括至少一個透鏡的光學發射系統，所述寬帶光源發出的光經輸入光纖、光纖耦合器傳輸到光學發射系統，被測透明材料反射的光經光纖耦合器、接收光纖傳輸到所述光學分析系統；

所述光學分析系統用于對接收到的被測透明材料的反射光進行分析以獲取反射峰對應的波長值；

所述數據處理系統用于根據所述光學分析系統獲取的反射峰對應的波長值獲取被測透明材料的厚度。

本發明實施例還提供了一種透明材料的厚度檢測方法，包括：

寬帶光源發出的光經輸入光纖、光纖耦合器傳輸到光學發射系統，并由所述光學發射系統輸出到被測量透明材料；

接收所述被測量透明材料的反射光，并由光纖耦合器、接收光纖傳輸到光學分析系統；

光學分析系統對接收到的被測透明材料的反射光進行分析以獲取反射峰對應的波長值；

數據處理系統根據所述光學分析系統獲取的反射峰對應的波長值獲取被測透明材料的厚度。

本發明上述實施例提供的透明材料的厚度檢測方法和裝置，使用寬帶光源作為輸出光，通過檢測反射光中兩個反射峰對應的波長，并由數據處理系統根據上述獲取的反射峰對應的波長值獲取被測透明材料的厚度，能夠實現準確、快速的對透明材料的厚度進行在線測量。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明透明材料的厚度檢測裝置實施例的結構示意圖；

圖2為圖1所示實施例中厚度檢測裝置的裝置示意圖；

圖3為本發明具體實施例中光學發射系統的原理示意圖一；

圖4為本發明具體實施例中光學發射系統的原理示意圖二；

圖5為本發明透明材料的厚度檢測方法實施例的流程示意圖。

具體實施方式

為使本發明實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。

針對現有技術中無法實現對透明材料的厚度進行迅速、準確的在線測量的缺點，本發明實施例提供了一種透明材料的厚度檢測裝置，圖1為本發明透明材料的厚度檢測裝置實施例的結構示意圖，如圖1所示，該裝置包括光學測量系統11、光學分析系統12和數據處理系統13，其中光學測量系統11主要用于輸出寬帶光源，并采集被測量的透明材料返回的反射光，光學分析系統12是一個進行光譜分析的分光系統，能夠檢測出反射光中能量最前的波長值，數據處理系統13基于上述獲取的波長值進行計算以獲取被測透明材料的厚度。