[發(fā)明專利]最小化對(duì)存儲(chǔ)器陣列及支持電路的位干擾及電壓耐受要求的用于對(duì)N溝道金屬氧化物半導(dǎo)體電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器單元陣列進(jìn)行編程及擦除的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200980149577.6 | 申請(qǐng)日: | 2009-12-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102246239A | 公開(kāi)(公告)日: | 2011-11-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 杰弗里·A·希爾茲;肯特·D·休依特;唐納德·S·格伯 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 密克羅奇普技術(shù)公司 |
| 主分類號(hào): | G11C16/04 | 分類號(hào): | G11C16/04;G11C16/16;G11C16/12 |
| 代理公司: | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11287 | 代理人: | 孟銳 |
| 地址: | 美國(guó)亞*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 最小化 存儲(chǔ)器 陣列 支持 電路 干擾 電壓 耐受 要求 用于 溝道 金屬 氧化物 半導(dǎo)體 擦除 | ||
1.一種擦除存儲(chǔ)器陣列中的多個(gè)存儲(chǔ)器段中的選定存儲(chǔ)器段的方法,所述存儲(chǔ)器陣列包括位于P型襯底內(nèi)的深N阱中的多個(gè)P阱,其中所述多個(gè)存儲(chǔ)器段中的每一者駐存于所述多個(gè)P阱中的相應(yīng)P阱內(nèi),所述方法包括以下步驟:
將所述深N阱設(shè)定為約4伏;
將所述多個(gè)P阱中的選定P阱設(shè)定為約4伏;
將所述多個(gè)P阱中的未選P阱設(shè)定為約-7伏;
將多個(gè)字線中的選定字線設(shè)定為約-11伏;
將所述多個(gè)字線中的未選字線設(shè)定為約零伏;
將所述多個(gè)P阱中的所述選定P阱中的第一多個(gè)位線設(shè)定為約4伏;
將所述多個(gè)P阱中的所述未選P阱中的第二多個(gè)位線設(shè)定為約零伏;
將與所述多個(gè)P阱中的所述選定P阱相關(guān)聯(lián)的第一源極選擇柵極線設(shè)定為約4伏;
將與所述多個(gè)P阱中的所述選定P阱相關(guān)聯(lián)的第一源極選擇漏極線設(shè)定為約4伏;
將與所述多個(gè)P阱中的所述未選P阱相關(guān)聯(lián)的第二源極選擇柵極線設(shè)定為約-7伏;
將與所述多個(gè)P阱中的所述未選P阱相關(guān)聯(lián)的第二源極選擇漏極線設(shè)定為約-7伏;
其中擦除所述多個(gè)存儲(chǔ)器段中的位于所述多個(gè)P阱中的所述選定P阱內(nèi)且耦合到所述多個(gè)字線中的所述選定字線的所述選定存儲(chǔ)器段。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中所述多個(gè)存儲(chǔ)器段中的所述選定存儲(chǔ)器段包括每字節(jié)八個(gè)位。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其中所述多個(gè)存儲(chǔ)器段中的未選存儲(chǔ)器段耦合到所述多個(gè)字線中的所述未選字線。
4.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一權(quán)利要求所述的方法,其中所述多個(gè)存儲(chǔ)器段中的所述未選存儲(chǔ)器段位于所述多個(gè)P阱中的所述未選P阱內(nèi)。
5.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一權(quán)利要求所述的方法,其中使所述第一多個(gè)位線浮動(dòng)而非設(shè)定為約4伏。
6.一種對(duì)存儲(chǔ)器陣列中的多個(gè)存儲(chǔ)器段中的選定存儲(chǔ)器段進(jìn)行編程的方法,所述存儲(chǔ)器陣列包括位于P型襯底內(nèi)的深N阱中的多個(gè)P阱,其中所述多個(gè)存儲(chǔ)器段中的每一者駐存于所述多個(gè)P阱中的相應(yīng)P阱內(nèi),所述方法包括以下步驟:
將所述深N阱設(shè)定為約4伏;
將所述多個(gè)P阱中的一者設(shè)定為約-11伏;
將所述多個(gè)P阱中的其它P阱設(shè)定為約-7伏;
將多個(gè)字線中的一者設(shè)定為約4伏;
將所述多個(gè)字線中的其它字線設(shè)定為約-7伏;
將多個(gè)位線中的至少一者設(shè)定為約-11伏;
將所述多個(gè)位線中的其它位線設(shè)定為約零伏;
將與所述多個(gè)P阱中的所述一者相關(guān)聯(lián)的第一源極選擇柵極線設(shè)定為約-11伏;
將與所述多個(gè)P阱中的所述一者相關(guān)聯(lián)的第一源極選擇漏極線設(shè)定為約-11伏;
將與所述多個(gè)P阱中的所述其它P阱相關(guān)聯(lián)的第二源極選擇柵極線設(shè)定為約-7伏;及
將與所述多個(gè)P阱中的所述其它P阱相關(guān)聯(lián)的第二源極選擇漏極線設(shè)定為約-7伏,
其中對(duì)所述多個(gè)存儲(chǔ)器段中的耦合到所述多個(gè)字線中的所述一者及所述多個(gè)位線中的所述至少一者的所述選定存儲(chǔ)器段進(jìn)行編程。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其中所述多個(gè)存儲(chǔ)器段中的選定至少一者的數(shù)目包括每字節(jié)位的任一正整數(shù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的方法,其中所述多個(gè)存儲(chǔ)器段中的未選存儲(chǔ)器段耦合到所述多個(gè)字線中的未選字線。
9.根據(jù)前述權(quán)利要求6到8中任一權(quán)利要求所述的方法,其中所述多個(gè)存儲(chǔ)器段中的未選存儲(chǔ)器段位于所述多個(gè)P阱中的未選P阱內(nèi)。
10.根據(jù)前述權(quán)利要求6到9中任一權(quán)利要求所述的方法,其中所述多個(gè)存儲(chǔ)器段中的所述選定至少一者包括每字節(jié)八個(gè)位。
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