[發明專利]集成電荷傳感器的納米流體通道及基于該納米流體通道的方法有效
| 申請號: | 200980135361.4 | 申請日: | 2009-07-09 |
| 公開(公告)號: | CN102150037A | 公開(公告)日: | 2011-08-10 |
| 發明(設計)人: | J·T·曼尼安;H·C·克萊格海德 | 申請(專利權)人: | 康奈爾大學 |
| 主分類號: | G01N27/00 | 分類號: | G01N27/00;G01N27/02;G01N27/414;B82B3/00;G01N33/48;C12Q1/68 |
| 代理公司: | 北京萬慧達知識產權代理有限公司 11111 | 代理人: | 葛強;鄔玥 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 集成 電荷 傳感器 納米 流體 通道 基于 方法 | ||
1.一種電探測器,包括一個納米流體通道和一個電荷傳感器,其中:
所述電荷傳感器選自由以下構成的組:納米線、納米管、晶體管以及電容,以及
所述電荷傳感器的一部分被集成在所述納米流體通道中,從而使所述電荷傳感器接觸到所述納米流體通道中的液體。
2.如權利要求1所述的電探測器,所述電荷傳感器的部分是位于所述納米流體通道的內部或表面上。
3.如權利要求1所述的電探測器,所述整個電荷傳感器位于所述通道的內部或表面上。
4.如權利要求1所述的電探測器,其包括位于所述通道內部或表面上的電荷傳感器電極。
5.如權利要求1所述的電探測器,其包括多個納米流體通道。
6.如權利要求1所述的電探測器,所述多個納米流體通道的個數是2-10,10-50,50-100,100-500,500-1000,或1000-5000個。
7.如權利要求1所述的電探測器,其包括多個電荷傳感器,其中,每個電荷傳感器的一部分被集成在所述納米流體通道中。
8.如權利要求7所述的電探測器,所述多個電荷傳感器的個數是2-10,10-50,50-100,或100-500個。
9.如權利要求1所述的電探測器,其中,所述納米流體通道的深度與德拜屏蔽長度相近。
10.如權利要求1所述的電探測器,其中,所述納米流體通道的深度小于德拜屏蔽長度。
11.如權利要求1所述的電探測器,其中,所述納米流體通道的深度是德拜屏蔽長度的2-10倍。
12.如權利要求1所述的電探測器,其中,所述納米流體通道的深度是0.1納米到1毫米。
13.如權利要求1所述的電探測器,其中,所述德拜屏蔽長度是0.1納米到1000納米。
14.如權利要求13所述的電探測器,其中,所述德拜屏蔽長度是10納米。
15.如權利要求1所述的電探測器,其中,所述納米流體通道的寬度是0.1納米到1納米,1納米到5納米,5納米到10納米,10納米到50納米,50納米到100納米,100納米到500納米,500納米到1微米,1微米到5微米,或5微米到10微米。
16.如權利要求1所述的電探測器,其中,所述納米管是一種p型或n型納米管。
17.如權利要求1所述的電探測器,其中,所述納米線或納米管包含一種半導體材料。
18.如權利要求1所述的電探測器,其中,所述納米線或納米管包含碳或硅。
19.如權利要求1所述的電探測器,其中,所述晶體管是場效應晶體管(FET)。
20.如權利要求19所述的電探測器,其中,所述場效應晶體管是納米流體通道表面上的一層薄膜。
21.如權利要求1所述的電探測器,其包括一微流體或宏觀流體結構,其流體連接到所述納米流體通道。
22.如權利要求21所述的電探測器,其中,所述微流體或宏觀流體結構是儲液池或通道。
23.如權利要求21所述的電探測器,其中,所述微流體或宏觀流體結構是選自由以下構成的組:細胞分選區域、過濾區域、分離區域、核酸放大區域、反應區域和儲存區域。
24.如權利要求1所述的電探測器,其中,目標分子或微粒與電荷傳感器接觸。
25.如權利要求1所述的電探測器,其中,目標分子或微粒不與電荷傳感器接觸。
26.如權利要求1所述的電探測器,其中,目標分子或微粒被抑制或限制在靠近電荷傳感器的感應范圍。
27.如權利要求1所述的電探測器,其中,目標分子或微粒是無標記或未標記的。
28.如權利要求1所述的電探測器,其中,所述電荷傳感器是可尋址的半導體電荷傳感器,其起到電解質柵型場效應晶體管的作用。
29.如權利要求1所述的電探測器,其中,所述電荷傳感器是非官能化的。
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