[發(fā)明專利]掃描束覆蓋投影

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200980129782.6
• 申請日: 2009-07-02
• 公開（公告）號: CN102113316A
• 公開（公告）日: 2011-06-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蘭黛爾·B·斯帕拉古
• 申請（專利權(quán)）人: 微視公司
• 主分類號: H04N5/74
• 分類號: H04N5/74;G03B21/00;H04N9/31
• 代理公司: 中原信達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219
• 代理人: 周亞榮;安翔

1.一種方法，包括：

使光束掃描掠過對象以顯示圖像；

接收表示所述對象上的點(diǎn)的反射；以及

基于所述點(diǎn)的位置來修改所述圖像。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，使光束掃描掠過對象以顯示圖像包括：將覆蓋投影到三維對象上。

3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，接收反射包括：接收來自位于所述三維對象上的反射器的反射。

4.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，修改所述圖像包括：使所述覆蓋變形，以匹配所述三維對象的當(dāng)前視角。

5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，基于所述對象的位置來修改所述圖像包括：基于相對于所述掃描的反射到達(dá)時(shí)間來確定所述點(diǎn)的位置。

6.如權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括：

移動正在掃描所述光束的投影儀；以及

更新所述圖像。

7.如權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括：

接收指示探針相對于所述對象的位置的至少一個(gè)反射；以及

接收來自所述探針的參數(shù)信息。

8.如權(quán)利要求7所述的方法，進(jìn)一步包括：將所述參數(shù)信息并入所述圖像。

9.一種方法，包括：

通過以二維形式掃描光束，將圖像投影到顯示表面；

確定所述光束何時(shí)通過所述顯示表面上的特定點(diǎn)；以及

基于所述光束通過所述特定點(diǎn)的時(shí)間來使所述圖像變形。

10.如權(quán)利要求9所述的方法，其中，確定所述光束何時(shí)通過特定點(diǎn)包括：檢測從所述特定點(diǎn)反射的光線。

11.如權(quán)利要求9所述的方法，其中，確定所述光束何時(shí)通過特定點(diǎn)包括：在所述特定點(diǎn)處檢測光線。

12.如權(quán)利要求9所述的方法，其中，將所述圖像投影到所述顯示表面上包括：將所述圖像投影到三維顯示表面。

13.如權(quán)利要求12所述的方法，其中，確定所述光束何時(shí)通過所述顯示表面上的特定點(diǎn)包括：檢測從所述三維顯示表面上的所述特定點(diǎn)反射的光線。

14.一種裝置，包括：

掃描光束投影儀，所述掃描光束投影儀用于通過在顯示表面上以二維形式掃描光束來顯示圖像；

至少一個(gè)光檢測器，所述至少一個(gè)光檢測器用于檢測從所述顯示表面上的多個(gè)反射點(diǎn)反射的光線；以及

圖像變形引擎，所述圖像變形引擎用于基于所述圖像內(nèi)的所述反射點(diǎn)的位置來使所述圖像變形。

15.如權(quán)利要求14所述的裝置，其中，所述掃描光束投影儀包括：微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)掃描鏡。

16.如權(quán)利要求14所述的裝置，進(jìn)一步包括：參數(shù)輸入接口，所述參數(shù)輸入接口用于接收與所述圖像內(nèi)的特定點(diǎn)相關(guān)的參數(shù)數(shù)據(jù)。

17.如權(quán)利要求14所述的裝置，其中，所述圖像變形引擎包括軟件模塊。

18.一種裝置，包括：

掃描投影儀，所述掃描投影儀用于在垂直方向和水平方向上使光束掃描掠過顯示表面，所述掃描投影儀源發(fā)垂直同步信號和水平同步信號；

檢測器組件，所述檢測器組件用于檢測所述光束何時(shí)通過所述顯示表面上的特定點(diǎn)；

定時(shí)電路，所述定時(shí)電路響應(yīng)于所述檢測器組件、所述垂直同步信號和所述水平同步信號，來確定所述光束通過所述顯示表面上的特定點(diǎn)的時(shí)間；以及

圖像變形引擎，所述圖像變形引擎用于響應(yīng)于所述定時(shí)電路來使所述掃描投影儀顯示的圖像變形。

19.如權(quán)利要求18所述的裝置，其中，所述檢測器組件包括與所述掃描投影儀位于一處的光電二極管。

20.如權(quán)利要求18所述的裝置，其中，所述檢測器包括與所述顯示表面位于一處的至少一個(gè)光電二極管。