[發明專利]用于發光器件的操作裝置的接頭占用情況的識別

有效

• 申請號: 200980111787.6
• 申請日: 2009-03-25
• 公開（公告）號: CN101982017A
• 公開（公告）日: 2011-02-23
• 發明（設計）人: 愛德華多·佩雷拉;馬丁·胡貝爾;邁克爾·齊默爾曼;弗蘭克·霍恩
• 申請（專利權）人: 赤多尼科有限公司
• 主分類號: H05B37/03
• 分類號: H05B37/03;H05B41/292
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝;王伶

1.一種用于操作發光器件(11)的操作裝置(41)，所述發光器件(11)尤其是氣體放電燈，所述操作裝置(41)具有：

用于接通電網電壓的至少兩個電壓接頭(2，3)；以及

電路，該電路構造成用于電隔離地識別所述電網電壓接通在兩個電壓接頭中的至少一個電壓接頭上，以據此選擇用于操作所述發光器件的工作參數，所述兩個電壓接頭最好是外部的。

2.一種用于操作發光器件(11)的操作裝置(41)，所述發光器件(11)尤其是氣體放電燈，所述操作裝置(41)具有：

用于接通電網電壓的至少兩個電壓接頭(2，3)；

變壓器(23)，該變壓器的初級繞組(24)與第一電壓接頭(3)連接，其中所述初級繞組(24)的飽和只能出現在所述電網電壓存在于所述第一電壓接頭(3)上時；以及

電路，該電路構造成用于電隔離地識別所述初級繞組的電氣參數，以據此選擇用于操作所述發光器件的工作參數，所述電氣參數例如是所述初級繞組(24)的飽和或阻抗變化。

3.根據權利要求2所述的操作裝置(41)，其特征在于，所述初級繞組(24)的飽和或阻抗變化的識別是通過控制單元(12)分析所述變壓器(23)的次級繞組(25)的阻抗來進行的。

4.根據前述權利要求之一所述的操作裝置(41)，其特征在于，所述次級繞組(25)被供應參考電壓(Vref)，與所述次級繞組(25)串聯的電流源(43)被選擇性地接通，以及所述控制單元(12)分析所述次級繞組(25)的電壓變化過程或電流變化過程。

5.根據權利要求3所述的操作裝置(41)，其特征在于，所述次級繞組(25)的阻抗的分析至少在所述電網電壓的一個半波過程中執行。

6.根據前述權利要求之一所述的操作裝置(41)，其特征在于，在識別或者未識別到所述初級繞組(24)飽和時，推斷出所述電網電壓接通到所述第一電壓接頭(3)或者第二電壓接頭(2)上。

7.根據前述權利要求之一所述的操作裝置(41)，其特征在于，所述電網電壓接通到所述第一電壓接頭(3)或者所述第二電壓接頭(2)上表明第一邏輯狀態或者第二邏輯狀態。

8.根據前述權利要求之一所述的操作裝置(41)，其特征在于，所述電網電壓接通到所述第一電壓接頭(3)或所述第二電壓接頭(2)表示第一燈類型或第二燈類型。

9.根據權利要求6或7所述的操作裝置(41)，所述操作裝置(41)具有用于存儲所求出的邏輯狀態或燈類型的存儲單元(38)。

10.一種用于檢測電壓被接通到電壓接頭(3)的電路結構(44)，該電路結構(44)具有：

用于連接變壓器(23)的兩個接頭(46，47)，所述變壓器的初級繞組(24)與所述電壓接頭(3)連接，其中所述初級繞組(24)的飽和只出現在有電壓在所述電壓接頭(3)上時；以及

用于識別所述初級繞組的參數的機構，所述參數例如是所述初級繞組(24)的飽和或者阻抗變化。

11.根據權利要求10所述的電路結構(44)，所述電路結構(44)為專用集成電路ASIC的形式。

12.一種用于識別用于發光器件的操作裝置的接頭被電網電壓占用的方法，其中，將所述接頭與在所述電網電壓存在時能飽和的線圈相連，并且在電隔離的情況下檢測所述線圈是否飽和或者是否出現阻抗變化。

13.一種用于借助用于發光器件的操作裝置的多個可能有的接頭中的一個接頭被電網電壓占用來設置發光器件的工作參數的方法，其中：

將所述接頭與在所述電網電壓存在時飽和的線圈連接；

在電隔離的情況下檢測所述線圈的參數，例如所述線圈是否飽和；以及

根據檢測情況，將工作參數用于相連的發光器件。

14.一種用于發光器件的操作裝置的控制單元，尤其是集成電路，例如ASIC或者微處理器，其構成為用于執行根據權利要求12或13所述的方法。