[發(fā)明專利]觸敏裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200980108490.4
• 申請日: 2009-01-12
• 公開（公告）號: CN102047206A
• 公開（公告）日: 2011-05-04
• 發(fā)明（設計）人: 邁克爾·林德·雅各布森;瓦恩·斯蒂恩·格呂納·漢森;亨里克·克里斯特恩·佩德森
• 申請（專利權）人: OPDI科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/042
• 分類號: G06F3/042
• 代理公司: 中原信達知識產(chǎn)權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 張煥生;謝麗娜

技術領域

本發(fā)明涉及一種光學觸敏裝置以及一種確定與光學觸敏裝置接觸的對象的位置和確定該對象的位置變化的方法。具體地，本發(fā)明涉及一種光觸摸板以及一種確定與光觸摸板接觸的對象的位置和確定該對象的位置變化的方法。

背景技術

DE202005010570-U1公開了一種干擾發(fā)生在一個波導內(nèi)的全內(nèi)反射的條件用于確定接觸的方法。

本發(fā)明的目的在于提供一種能夠以低成本制造的光學觸敏裝置。

發(fā)明內(nèi)容

根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供一種觸敏裝置，包括：光源，用來發(fā)射光；觸敏波導，被配置用于將光從光源向觸敏波導的觸敏面引導，使得對象干擾在該對象接觸觸敏面的接觸點處的被引導的光的至少一部分；檢測器陣列，被配置為檢測通過觸敏波導從光源傳播的光的強度分布，用于對象與觸敏面之間的接觸點的位置編碼；以及第一光重定向部件，被配置為將通過觸敏波導從光源傳播到第一光重定向部件的光向檢測器陣列重定向。其中，當對象在相應特定接觸點接觸觸敏面時，向檢測器陣列的特定點傳播的光的至少一部分被阻止入射到檢測器陣列的特定點。優(yōu)選地，光的重定向涉及在與觸敏面平行的面中改變傳播(具體地，如投影所見)方向。

根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供一種接觸觸敏面的對象的位置編碼的方法，所述方法包括：從光源發(fā)射光；使用觸敏波導將光從光源向觸敏波導的觸敏面引導，使得對象干擾在該對象接觸觸敏面的接觸點處的被引導的光的至少一部分；使用檢測器陣列檢測通過觸敏波導從光源傳播的光的強度分布，用于對象與觸敏面之間的接觸點的位置編碼；以及使用第一光重定向部件將通過觸敏波導從光源傳播到第一光重定向部件的光向檢測器陣列重定向。其中，當對象在相應特定接觸點接觸觸敏面時，向檢測器陣列的特定點傳播的光的至少一部分被阻止入射到檢測器陣列的特定點。優(yōu)選地，光的重定向涉及在與觸敏面平行的面中改變傳播方向。

附圖說明

通過下面參照附圖對本發(fā)明的示例性實施例的詳細描述，本發(fā)明的特點和優(yōu)點對于本領域的技術人員將變得更加容易理解，其中：

圖1示意性示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的優(yōu)選實施例的平面圖，

圖2示出沿圖1的線II-II的截面，

圖3示出圖1的實施例的平面圖，

圖4示出圖1的實施例的平面圖，

圖5示出圖1的實施例的平面圖，

圖6示出圖1的實施例的平面圖，

圖7示意性示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的優(yōu)選實施例的平面圖，

圖8示出沿圖7的線VIII-VIII的橫截面，

圖9示出沿圖7的線IX-IX的橫截面，

圖10示出沿圖7的線X-X的橫截面，

圖11示意性示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的實施例的橫截面圖，

圖12示意性示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的優(yōu)選實施例的平面圖，

圖13示出沿圖12的線XIII-XIII的橫截面，

圖14示出沿圖12的線XIV-XIV的橫截面，

圖15示出光重定向部件的橫截面，

圖16示出光重定向部件的橫截面，

圖17示意性示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的優(yōu)選實施例的平面圖，

圖18示出圖17示出的實施例的部分分解圖，

圖19示出圖17示出的實施例的部分分解圖，

圖20示出圖17示出的實施例的部分分解圖，

圖21示意性示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的實施例的平面圖，

圖22示意性示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的實施例的平面圖，

圖23示意性示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的實施例的平面圖，

圖24示意性示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的實施例的平面圖，

圖25示意性示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的實施例的平面圖，

圖26示意性示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的實施例的橫截面圖，

圖27示意性示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的實施例的橫截面圖，

圖28示意性示出具有顯示器的根據(jù)本發(fā)明的裝置的實施例的橫截面圖，

圖29示意性示出包括信號處理器的根據(jù)本發(fā)明的裝置的實施例，

圖30示意性示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的實施例的平面圖，

圖31示出沿圖30的線XXXI-XXXI的橫截面，

圖32示意性示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的實施例的平面圖，

圖33示出沿圖32的線XXXIII-XXXIII的橫截面，

圖34示意性示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的實施例的平面圖，

圖35示意性示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的實施例的平面圖，

圖36示意性示出檢測器陣列的測量信號作為在檢測器陣列測量的坐標的函數(shù)的示例，