[發明專利]含鎳硫化物的處理方法無效
| 申請號: | 200980107194.2 | 申請日: | 2009-01-09 |
| 公開(公告)號: | CN101970117A | 公開(公告)日: | 2011-02-09 |
| 發明(設計)人: | 杰弗里·大衛·西尼爾;布倫丹·派克;布里安·賈德 | 申請(專利權)人: | BHP比利通SSM開發有限公司 |
| 主分類號: | B03D1/02 | 分類號: | B03D1/02 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205 | 代理人: | 臧建明;王申 |
| 地址: | 澳大利亞*** | 國省代碼: | 澳大利亞;AU |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 硫化物 處理 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種從礦石或精礦石中分離含鎳硫化物的方法。
更具體地,本發明涉及一種從礦石或精礦石中分離含鎳硫化物的濕法冶金法。
更具體地,本發明涉及一種從礦石或精礦石中分離含鎳硫化物的濕法冶金法,包括從含有滑石的礦石或精礦石的泥漿中泡沫浮選出含鎳硫化物礦物。
背景技術
詞語“含鎳硫化物”在這里應理解為包括硫化鎳和硫化鎳鐵。含鎳硫化物的例子包括鎳黃鐵礦、針鎳礦和紫硫鎳礦礦物。
本申請人在凱斯山(Mount?Keith)鎳礦床的研究和工作期間做出本發明。
在1990年代初期發現了凱斯山礦床。該礦床含有含鎳硫化物。當時主要的任務是找到一種可處理這種低級別的鎳礦石以制得能在現有的澳大利亞和芬蘭的兩種熔爐中處理的品質精礦的方法。當時研發的并在礦井中使用的方法能處理高達90%的礦石。由于滑石的存在,剩余10%左右包含高級別的滑石礦石的礦石無法被處理成可接受的精礦。在礦體內部滑石礦石以不連續的礦脈存在。已經被挖掘出的滑石礦石仍儲存在礦山中。
處理凱斯山礦山中滑石礦石以及從礦石中分離出含鎳硫化物是主要目標。
此外,處理滑石礦石的方法并不限于凱斯山礦山,也可以成為位于澳大利亞以及其他地區的許多其他礦床的處理方法。
本申請人進行的研究和研發工作獲得以下重要發現。
1、降低Eh值,例如通過加入連二亞硫酸鈉,使硫化鎳礦石的疏水性比滑石顆粒差,結果使瓜爾膠將選擇性地包圍滑石而不是硫化鎳,隨后例如通過加入空氣提高Eh值,可提高硫化鎳礦物的浮選性,使硫化鎳礦石選擇性地漂浮起來,而使滑石顆粒剩余在泥漿中。瓜爾膠(也可與其他此類表面改性劑)的作用是使瓜爾膠包圍的滑石顆粒聚集到一起,由此抑制滑石顆粒的浮選性。瓜爾膠改變滑石顆粒的表面特性的能力是已知的。然而,本申請人發現,瓜爾膠對于凱斯山礦石類并不十分有效。本申請人發現在自然的浮選條件下,瓜爾膠與滑石和硫化鎳發生疏水地相互作用。因而,在自然的浮選條件下瓜爾膠同時包圍滑石和硫化鎳,結果是瓜爾膠對滑石和硫化鎳起到相同作用,在自然浮選條件下無法促進滑石和硫化鎳分離。上述Eh值的調節使之可以利用瓜爾膠來抑制滑石浮選,而允許選擇性地硫化鎳礦石的浮選。
2、本申請人發現,如這里所說的對選出的泡沫產品進行依次再磨處理能出乎意料地極大改善浮選出的精礦對滑石的排斥度,因而可顯著改善滑石和硫化鎳的分離。本申請人發現,僅僅部分滑石顆粒的表面使顆粒粘附在氣泡上(即,起到疏水的作用),在(當制備浮選顆粒時進行的)初磨步驟之后對滑石顆粒進行再磨處理能提高不趨于出現這種粘附的滑石表面比例。因此,例如在自然浮選條件下,再磨滑石顆粒能增大滑石的親水性,使滑石顆粒的浮選性較硫化鎳礦物差。詞語“連續的再磨”在這里應理解為該方法在初磨步驟之后包括對該方法的各個階段的生產液流中的顆粒進行一系列再磨的步驟,因而顆粒將經歷多于一次的碾磨操作。
發明內容
本說明書涉及上述發現的第二方面。
根據本發明,提供一種從包含滑石顆粒的礦石或精礦石中分離含鎳硫化物的方法,該方法包括在至少一個浮選階段中處理礦石或精礦石的泥漿,并且該方法還包括這里所述的對所述泥漿中的顆粒進行連續的再磨。
礦石或精礦石可以僅包括滑石礦或精礦,或者非滑石和滑石礦石和精礦石的混合物。
優選地,該方法包括:根據顆粒尺寸將泥漿分成粗顆粒流和細顆粒流的步驟,以及經上述的浮選階段處理每種生產液流的步驟,因而該方法將包括粗顆粒浮選階段和細顆粒浮選階段。
優選地,細顆粒流包括小于40μm的顆粒。
優選地,該方法包括:在至少一個濾清回路(cleaner?circuit)中處理各個浮選階段流出的粗顆粒生產液流和細顆粒生產液流的步驟。
優選地,該方法包括:在分離的粗選階段中處理粗顆粒生產液流和細顆粒生產液流的步驟,無需將精礦或殘渣返回粗選單元。
優選地,該方法包括:對這里描述的至少一個生產液流中的顆粒進行依次再磨的步驟。
優選地,該方法包括:在前端濾清回路中濾清從粗顆粒浮選階段的粗選單元流出的精礦流(concentrate?stream)的步驟。
優選地,該方法包括:在所述前端濾清回路中濾清精礦流之前,對從粗顆粒浮選階段的粗選單元流出的所述精礦流中的顆粒進行再磨的步驟。
優選地,碾磨步驟包括:將顆粒碾磨至40μm的P80的步驟。
優選地,該方法包括:在所述前端濾清回路中濾清從細顆粒浮選階段的粗選單元流出的第一部分精礦流的步驟。
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