[發(fā)明專利]程序測試裝置以及程序無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200980103790.3 | 申請日: | 2009-01-23 |
| 公開(公告)號: | CN101925883A | 公開(公告)日: | 2010-12-22 |
| 發(fā)明(設計)人: | 西村優(yōu) | 申請(專利權)人: | 東京毅力科創(chuàng)株式會社 |
| 主分類號: | G06F11/28 | 分類號: | G06F11/28 |
| 代理公司: | 北京東方億思知識產(chǎn)權代理有限責任公司 11258 | 代理人: | 柳春雷;南霆 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 程序 測試 裝置 以及 | ||
技術領域
本發(fā)明主要涉及對控制半導體制造裝置等的硬件的程序進行測試的程序測試裝置等。
背景技術
在以往的程序測試裝置中,有自動地反復執(zhí)行程序的測試的程序開發(fā)裝置(例如參考專利文獻1)。本裝置進行以下動作,即:向自動測試裝置輸入想要進行測試的命令,自動測試裝置向狀態(tài)監(jiān)視裝置詢問仿真裝置能否接收來自自動測試裝置的命令。如果能夠接收命令,則將命令發(fā)送給仿真裝置。仿真裝置按照所接收的命令來執(zhí)行測試程序,并將執(zhí)行結果發(fā)送給自動測試裝置。自動測試裝置保存執(zhí)行結果,并通過對所有的命令反復執(zhí)行來進行測試程序的測試。
專利文獻1:日本專利文獻特開2003-22199號公報(第1頁、圖1等)。
發(fā)明內(nèi)容
然而,在以往的程序測試裝置中,在進行正常響應以外的異常響應或動作不良等的測試時,通常通過手動操作來改變模擬器側的動作來實施測試。因此,在異常響應或動作不良的情況的測試中存在手動操作,測試繁瑣并會產(chǎn)生錯誤。
本發(fā)明的第一方面的程序測試裝置,包括:測試對象程序存儲部,其存儲作為測試對象的程序的測試對象程序;模擬器程序存儲部,其存儲模擬器程序,所述模擬器程序是模擬硬件的動作的程序,并且是進行與作為從測試對象程序傳遞的信息的程序信息和動作模式對應的動作的程序;測試信息接收部,其接收作為為了對所述測試對象程序進行測試而提供給該測試對象程序的信息的、具有輸入信息和動作模式的測試信息;測試控制部,獲取所述測試信息所具有的動作模式并傳遞給所述模擬器程序;以及執(zhí)行部,將所述測試信息具有的輸入信息提供給測試對象程序并執(zhí)行該測試對象程序,并且使用作為該測試對象程序的執(zhí)行結果的程序信息和所述測試控制部傳遞給所述模擬器程序的動作模式來執(zhí)行所述模擬器程序。
通過該結構,能夠自動地切換模擬器程序的動作模式來進行測試。因此,特別是能夠自動地容易進行硬件錯誤時的測試對象程序的測試。
另外,與本發(fā)明的第一方面相對,本發(fā)明的第二方面的程序測試裝置,還包括:測試信息存儲部,存儲有兩個以上的測試信息;以及自動測試部,依次從所述測試信息存儲部讀出兩個以上的測試信息,并傳遞給所述測試信息接收部。
通過該結構,能夠對兩個以上的測試項目自動地進行測試。
另外,與本發(fā)明的第二方面相對,本發(fā)明的第三方面的程序測試裝置,其中:所述測試信息還具有作為測試對象程序的正常的動作結果的正解信息,所述程序測試裝置還包括測試結果判斷部,所述測試結果判斷部獲取所述執(zhí)行部的所述測試對象程序的動作結果,并使用該動作結果和所述測試信息具有的正解信息判斷測試為正常或異常,輸出該判斷結果。
通過該結構,能夠進行測試結果的正常或異常的自動判斷。
另外,與本發(fā)明的第一至第三中任一方面相對,本發(fā)明的第四方面的程序測試裝置,其中:所述測試信息還具有所述模擬器程序進行動作所使用的IO值,所述測試控制部獲取所述測試信息所具有的動作模式和IO值并傳遞給所述模擬器程序,所述執(zhí)行部將所述測試信息所具有的輸入信息提供給測試對象程序并執(zhí)行該測試對象程序,并且使用作為該測試對象程序的執(zhí)行結果的程序信息以及所述測試控制部傳遞給所述模擬器程序的動作模式和IO值來執(zhí)行所述模擬器程序。
根據(jù)該結構,能夠進行以下測試:自動地進行模擬器程序的動作模式并且自動地改變模擬器程序所使用的IO值。因此,特別是能夠自動地容易進行硬件錯誤是的測試對象程序的測試。
另外,與本發(fā)明的第一至第三中任一方面相對,本發(fā)明的第五方面的程序測試裝置,其中:所述測試控制部還進行獲取作為所述模擬器程序的動作結果的IO值并輸出的處理。
通過該結構,能夠正確把握并且判斷測試對象程序的動作結果。
另外,與本發(fā)明的第一至第五中任一方面相對,本發(fā)明的第六方面的程序測試裝置,其中:所述動作模式至少具有正常模式和異常模式。
通過該結構,至少能夠自動地進行正常模式和異常模式這兩者的測試。
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