[發明專利]利用指示劑顆粒檢測靶成分

有效

• 申請號: 200980102880.0
• 申請日: 2009-01-19
• 公開（公告）號: CN101925817A
• 公開（公告）日: 2010-12-22
• 發明（設計）人: T·H·埃弗斯
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦電子股份有限公司
• 主分類號: G01N33/542
• 分類號: G01N33/542;G01N33/543
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 周鐵;劉鵬

1.一種用于檢測與樣品中靶成分(102-402)相關的感興趣參數的方法，其包括如下步驟：

a)在所述樣品中分布一些指示劑顆粒(101-401)；

b)使靶成分，如果存在的話，結合到所述指示劑顆粒和/或接觸表面(112-412)；

c)直接地或隱含地確定鄰近所述接觸表面的區域中指示劑顆粒與接觸表面之間的距離(d)，并根據所述距離評估所述感興趣的參數。

2.一種用于檢測與樣品中靶成分(102-402)相關的感興趣參數的傳感器系統(100)，該系統包括：

a)具有接觸表面(112-412)的樣品室(1)，所述樣品可以提供在所述樣品室中；

b)一些指示劑顆粒(101-401)，其能夠分布于所述樣品中并不直接地或通過靶成分(102-402)結合到所述接觸表面；

c)傳感器元件(121，131，132)，其用于直接地或隱含地確定鄰近所述接觸表面的區域中指示劑顆粒與接觸表面之間的距離(d)。

3.依據權利要求1的方法或依據權利要求2的傳感器系統(100)，其特征在于所述感興趣的參數至少包括如下值之一：

-靶成分的量和/或濃度；

-靶成分(102-402)所結合的指示劑顆粒(101-401)的絕對量或相對量；

-靶成分(102-402)所結合的接觸表面(112-412)的絕對大小或相對大小；

-所述靶成分的化學修飾；

-所述樣品的物理性質，該物理性質引起所述指示劑顆粒和所述接觸表面之間距離的變化，特別是所述樣品的溫度、pH和/或離子強度的變化。

4.依據權利要求1的方法或依據權利要求2的傳感器系統(100)，其特征在于所述指示劑顆粒(101-401)包括磁珠、熒光顆粒、受體生色團和/或供體生色團。

5.依據權利要求1的方法或依據權利要求2的傳感器系統(100)，其特征在于在確定所述指示劑顆粒(101-401)與所述接觸表面(112-412)的距離(d)期間在所述指示劑顆粒(101-401)上施加力，特別是施加經調節的力。

6.依據權利要求1的方法或依據權利要求2的傳感器系統(100)，其特征在于，特別是在全內反射的情況下，入射光束(L1)發射到所述接觸表面(112-412)上。

7.依據權利要求1的方法或依據權利要求2的傳感器系統，其特征在于所述指示劑顆粒被磁化并且所述指示劑顆粒與所述接觸表面之間的距離(d)由它們對磁場傳感器的影響來確定。

8.依據權利要求1的方法或依據權利要求2的傳感器系統(100)，其特征在于所述接觸表面(112-412)覆蓋有受體生色團或供體生色團。

9.依據權利要求1的方法或依據權利要求2的傳感器系統(100)，其特征在于測量樣品中指示劑顆粒的濃度。

10.依據權利要求1的方法或依據權利要求2的傳感器系統(100)，其特征在于至少兩種測量方法，這兩種測量方法以不同的方式取決于所述指示劑顆粒的濃度和它們與所述接觸表面的距離。

11.使得能夠完成依據權利要求1的方法的計算機程序產品。