[實用新型]光斑位置測量儀有效
| 申請號: | 200920252327.2 | 申請日: | 2009-12-30 |
| 公開(公告)號: | CN201583242U | 公開(公告)日: | 2010-09-15 |
| 發明(設計)人: | 陳日升;陳志理;張云興;張志忠;張金玉 | 申請(專利權)人: | 核工業理化工程研究院華核新技術開發公司 |
| 主分類號: | G01B7/00 | 分類號: | G01B7/00 |
| 代理公司: | 天津市宗欣專利商標代理有限公司 12103 | 代理人: | 胡恩河 |
| 地址: | 300384 天津市華苑產業區*** | 國省代碼: | 天津;12 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光斑 位置 測量儀 | ||
1.一種光斑位置測量儀,其特征在于:包括PSD探測器(1),PSD探測器(1)的輸出端與信號處理電路(2)的輸入端連通,信號處理電路(2)的輸出端和單片機(3)的輸入端連通,單片機(3)的輸出端通過USB接口(4)或485接口(5)和計算機(6)進行通訊。
2.根據權利要求1所述的光斑位置測量儀,其特征在于:所述的信號處理電路(2)包括電流/電壓濾波轉換電路(21)和電壓放大電路(22)。
3.根據權利要求2所述的光斑位置測量儀,其特征在于:所述的電流/電壓濾波轉換電路(21)包括有四組相同、且相互獨立的電流/電壓轉換電路(25),每組設置有濾波和相位補償電路。
4.根據權利要求2所述的光斑位置測量儀,其特征在于:所述的電壓放大電路(22)包括有四組相同、且相互獨立的電壓放大器(26)。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于核工業理化工程研究院華核新技術開發公司,未經核工業理化工程研究院華核新技術開發公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200920252327.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





