[實(shí)用新型]一種用于降低原子熒光光譜儀光學(xué)背景及噪聲的裝置

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200920232838.8
• 申請(qǐng)日: 2009-07-23
• 公開（公告）號(hào): CN201477048U
• 公開（公告）日: 2010-05-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉召貴;胡曉斌;馬聰;郭昕;譚周勇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/64
• 分類號(hào): G01N21/64
• 代理公司: 南京經(jīng)緯專利商標(biāo)代理有限公司 32200
• 代理人: 樓高潮

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種原子熒光光譜儀，具體涉及一種用于降低原子熒光光譜儀光學(xué)背景及噪聲的裝置。

背景技術(shù)

原子熒光光譜分析是20世紀(jì)60年代中期提出并發(fā)展起來的光譜分析技術(shù)，是原子光譜法中的一個(gè)重要分支，它是原子吸收和原子發(fā)射光譜的綜合與發(fā)展，是一種優(yōu)良的痕量分析技術(shù)。

現(xiàn)有技術(shù)中，原子熒光光譜儀主要用于檢測(cè)Hg，As、Se、Te、Bi、Sb、Sn或其他元素的ppt級(jí)檢測(cè)，其被廣泛應(yīng)用于環(huán)境保護(hù)、臨床醫(yī)學(xué)、農(nóng)業(yè)、地質(zhì)冶金、制藥行業(yè)、石化行業(yè)等行業(yè)，其不僅可以測(cè)定金屬元素，而且也可以被間接用來測(cè)定非金屬元素和有機(jī)化合物。原子熒光光譜分析法(AFS)是利用原子熒光譜線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度進(jìn)行物質(zhì)的定性及定量分析方法，它的基本原理是原子蒸氣吸收特征波長(zhǎng)的光輻射之后，原子被激發(fā)至高能級(jí)，然后回到基態(tài)時(shí)便發(fā)射出一定波長(zhǎng)的原子熒光，再依據(jù)熒光的強(qiáng)度分析所測(cè)元素的含量。原子熒光光譜儀的基本結(jié)構(gòu)包括激發(fā)光源、原子化器、分光系統(tǒng)、檢測(cè)器、信號(hào)放大器以及數(shù)據(jù)處理器等部分。

現(xiàn)有技術(shù)中，光源發(fā)射的特征光譜會(huì)照射到光路筒內(nèi)壁及其后的光學(xué)暗室內(nèi)壁，由于光的漫反射作用，會(huì)有一部分反射進(jìn)入到信號(hào)接收裝置，這部分光被稱為雜散光，雜散光的存在造成儀器本底高，且不穩(wěn)定。

于是，設(shè)計(jì)一種能降低原子熒光光譜儀光學(xué)背景及噪聲的裝置已成為本技術(shù)領(lǐng)域中亟待解決的技術(shù)問題。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的在于克服上述技術(shù)的不足，提供一種用于降低原子熒光光譜儀光學(xué)背景及噪聲的裝置，其解決了原子熒光光譜儀工作中形成的雜散光而影響儀器穩(wěn)定性的技術(shù)缺陷和設(shè)計(jì)弊端。

本實(shí)用新型為滿足上述目的，采用以下技術(shù)方案：一種用于降低原子熒光光譜儀光學(xué)背景及噪聲的裝置，包括光學(xué)暗室，所述光學(xué)暗室與光路筒的外壁相貼合，所述光路筒正對(duì)所述光學(xué)暗室的一側(cè)設(shè)置有兩光源以及信號(hào)接收裝置，所述光源的正前方靠近所述光學(xué)暗室處各裝有一反射鏡，以吸收并反射光源發(fā)出的光線。

更進(jìn)一步，所述反射鏡由所述光路筒內(nèi)壁向外壁凸設(shè)。

更進(jìn)一步，所述光學(xué)暗室內(nèi)壁處設(shè)置有吸光材料。

更進(jìn)一步，所述光路筒的內(nèi)壁正對(duì)所述信號(hào)接收裝置處設(shè)置有通光孔。

更進(jìn)一步，所述光源為空心陰極燈。

更進(jìn)一步，所述反射鏡與水平面夾角在30度至60度。

更進(jìn)一步，所述角度為60度。

基于上述設(shè)計(jì)，本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于：整個(gè)裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，布局合理；最大程度地降低儀器的雜散光，將儀器空白測(cè)量的噪聲值降低到最小；用戶操作使用方便。

本實(shí)用新型的其他目的和優(yōu)點(diǎn)可以從本實(shí)用新型所揭露的技術(shù)特征中得到進(jìn)一步的了解。為讓本實(shí)用新型之上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例并配合所附圖式，作詳細(xì)說明如下。

附圖說明

圖1是本實(shí)用新型之一實(shí)施例的用于降低原子熒光光譜儀光學(xué)背景及噪聲的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖1中標(biāo)號(hào)說明：光學(xué)暗室11、光路筒12、光源13、信號(hào)接收裝置14、反射鏡15、通光孔16、吸光材料17。

具體實(shí)施方案：

請(qǐng)參考圖1所示，本實(shí)用新型的一種用于降低原子熒光光譜儀光學(xué)背景及噪聲的裝置，包括光學(xué)暗室11，光學(xué)暗室11與光路筒12的外壁相貼合，光路筒12正對(duì)光學(xué)暗室11的一側(cè)設(shè)置有兩光源13以及信號(hào)接收裝置14，光源13的正前方靠近光學(xué)暗室11處各裝有反射鏡15，反射鏡15由光路筒12內(nèi)壁向外壁凸設(shè)，光學(xué)暗室11內(nèi)壁處設(shè)置有吸光材料17，光路筒12的內(nèi)壁正對(duì)信號(hào)接收裝置14處設(shè)置有通光孔16，本實(shí)施例中光源為空心陰極燈。反射鏡15與水平面夾角在30度至60度，本實(shí)用新型中的角度為60度。

整個(gè)裝置的工作原理為：第一，光源13發(fā)出的特征光譜會(huì)直接照射到反射鏡15上，其中部分被吸收，部分被向反射鏡15斜上方反射，而不會(huì)進(jìn)入到信號(hào)接收裝置14，形成雜散光；其二，信號(hào)接收裝置14的正前方的通光孔16，避免雜散光照射到信號(hào)接收裝置14對(duì)面筒壁上，而反射進(jìn)入信號(hào)接收裝置14，形成雜散光；其三，光學(xué)暗室11的室壁上的吸光材料17，當(dāng)雜散光照射到光學(xué)暗室11之后，大部分被吸收，避免反射作用，從而降低了光學(xué)背景。