[實用新型]LED光源的光衰測試裝置

有效

• 申請號: 200920220190.2
• 申請日: 2009-10-28
• 公開（公告）號: CN201503308U
• 公開（公告）日: 2010-06-09
• 發明（設計）人: 張進發;林志永
• 申請（專利權）人: 東莞勤上光電股份有限公司
• 主分類號: G01J1/00
• 分類號: G01J1/00;G01J1/04
• 代理公司: 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350
• 代理人: 湯東鳳

技術領域

本實用新型涉及一種測試裝置，特別是指一種LED光源的光衰測試裝置。

背景技術

在LED光源工作的過程中，由于熱量及其它因素影響，熒光粉及芯片會逐漸老化，芯片的電光轉換效率會變低，而熒光粉受激發出光也會減少，導致LED光源整體發光效率變低，此現象稱之為LED光源的光衰。

當光衰達到一定程度時，LED光源發光就不能滿足使用需要，此時LED光源的壽命即完結。由于LED光源光衰極其緩慢，通常達到幾萬小時才會達到其壽命，因此測量LED光源壽命的方法，都是通過測量其在一定時間內的出光減少量，以此總結得出壽命值。

現階段行業內最為常用的方法是通過積分球，定期多次測量再積分得出LED光源光通量，然后計算出一定時間內光通量的變化，再估算出LED光源的壽命，該測試方法為：首先將LED光源通過積分球測試總光通量，然后將光源放到恒流板老化儀中測試，到一定時間，再從恒流板將光源拆下放入積分球測試總光通量，測試完成后再放回恒流板中進行老化(此過程中LED光源一直處于點亮狀態)。

在這種反反復復的老化光衰過程中，存在太多的誤差，所以造成測試的結果誤差很大，原因主要有：

1、人為因素：每次測試都需將光源從老化板上拆下，在拆裝的過程中，有沾導熱膠厚薄的誤差造成散熱問題；有手動挑動LED光源的不良問題；有反復拆卸電路與夾具接觸不良問題；有手動將LED光源放入積分球的距離、位置以及角度微差所造成的誤差以及讀取測試結果產生的誤差；

2、測試儀器因素：特別是積分球光學儀器，無論它多先進，每次測試的總光通量都會偏差，因為這是靠軟件進行積分計算而得到的數值，不是直接測試的數值，并且不穩定，重復性差；而且距離過遠時積分球測量到的光線過少，結果不準確，太近又有雜光影響；

3、測試儀器：其精確度直接影響到測試結果；

4、探光距離：即測試儀器與LED光源之間的距離，光傳播過程中會有損耗，因此距離太遠測試結果偏差大；LED光源發出光線是朝向各個方向的，因此距離太近則測試儀器接收到的光線不純，也會影響到測試結果；

5、位置和角度；LED光源與測試儀器的相對位置和角度，影響到測試儀器接收到的光線，也會影響到測試結果；

7、夾具：夾具夾緊的程度及夾緊位置，影響到安裝的位置和角度。

上述這些因素都很容易使原來的光發生漂移，使測量得到的單顆LED光源的照度或光通量出現大幅度偏差，從而嚴重影響光衰測試的準確性，因此影響光衰測試的準確性。

而且，多次拆裝，導致測試效率低。積分球的價格是比較昂貴的，而且需要使用軟件，因此一臺計算機也是必需的，這樣總體設備的成本就比較高。

因此急需一個能解決上述問題的LED光衰測試裝置。

實用新型內容

本實用新型所要解決的技術問題是提供一種可以提高測試準確度的LED光源的光衰測試裝置。

為了解決上述問題，本實用新型采取以下技術方案：

一種LED光源的光衰測試裝置，包括一中空的內層表面為黑色的筒體和一個照度計，在筒體內一端設有LED光源安裝位，另一端與LED光源安裝位對應位置安裝所述照度計。

優選的，在所述筒體內照度計和LED光源安裝位之間設有隔柵，隔柵上開孔。

優選的，所述LED光源的中軸線與隔柵中心孔的中軸線以及照度計探頭中軸線重合。

優選的，所述孔的直徑大于照度計探頭直徑。

優選的，所述筒體內設有3-5層隔柵。

優選的，所述隔柵等間距設置。

優選的，所述筒體的長度為300-350mm，外徑為50-100mm。

優選的，所述筒體的一端面上開設一個與照度計探頭匹配的固定卡孔，照度計探頭向筒體內卡在所述固定卡孔上。

優選的，所述筒體上一端敞開，在該端可拆卸連接一個托架，所述LED光源安裝在所述托架內。

本實用新型的有益效果為：利用本裝置可以提高測試LED的光衰的準確性，主要體現在：

1、避免了測試儀器的局限性：不需要通過積分計算，而直接讀數，測量時照度計測量到LED光源射向照度計探頭范圍內的光線得知光通量和面積，通過公式：照度(lux)＝光通量(lm)/面積(m²)得到光通量變化，從而得知光衰，準確度很高。

2、避免了探光距離產生的誤差：本方案中不論遠近，照度計只要有讀數即可，而且由于LED光源在黑色裝置內，沒有雜光影響。