[實用新型]一種探針臺有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200920213727.2 | 申請日: | 2009-11-17 |
| 公開(公告)號: | CN201616426U | 公開(公告)日: | 2010-10-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 顧健華;林堅;劉偉 | 申請(專利權(quán))人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66 |
| 代理公司: | 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李時云 |
| 地址: | 20120*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 探針 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及半導(dǎo)體集成電路測試領(lǐng)域,特別涉及一種探針臺。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體制造工藝中,所制造的各組晶片在被切割成為單個的芯片之前,利用探針臺對晶片進行元件參數(shù)測量是一項重要的監(jiān)測步驟,通過測量晶片上的測試鍵中的電阻、電容、晶體管等元件的電性參數(shù)來反映元件特性和生產(chǎn)線上的問題。請參閱圖1,圖1為現(xiàn)有技術(shù)的探針臺的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示,該探針臺1內(nèi)具有水平方向軌道2、豎直方向軌道3、上下方向抬升機構(gòu)4、載晶盤5和探針卡6。測量時,晶片承載于半導(dǎo)體測量探針臺1內(nèi)的載晶盤5上,探針臺1內(nèi)的電機(圖中未示)控制載晶盤5在水平軌道2和豎直軌道3上運動,定位到探針卡6的下方位置,再由電機控制上下方向抬升機構(gòu)4將載晶盤5向上抬升,使待測晶片與探針卡6接觸,其后,測量信號通過探針卡上的探針加載到晶片的測試鍵上,開始對晶片測試鍵各參數(shù)的檢測。為保證探針臺1內(nèi)的水平、豎直導(dǎo)軌及上下方向抬升機構(gòu)等內(nèi)部機械裝置的良好運轉(zhuǎn),在這些機械裝置內(nèi)添加潤滑油是必要的,但在探針臺1的工作過程當中,潤滑油會受熱蒸發(fā),蒸發(fā)的潤滑油氣體在探針臺1的頂部遇冷重新凝為潤滑油滴,滴至晶片上,影響探針卡6對晶片進行性能測試的準確性,最終造成晶片良率的下降。
實用新型內(nèi)容
本實用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種探針臺,以解決探針臺內(nèi)的潤滑油受熱蒸發(fā)后又重新凝結(jié)為潤滑油滴滴落在晶片上,造成晶片良率下降的問題。
為解決上述技術(shù)問題,本實用新型提供一種探針臺,包括:探針卡;載晶盤,用于承載晶片;上下方向抬升機構(gòu),用于承載所述載晶盤,并使所述載晶盤在上下方向移動;軌道,用于承載所述上下方向抬升機構(gòu)和所述載晶盤,并使所述上下方向抬升機構(gòu)和所述載晶盤在水平方向或豎直方向移動,還包括排風(fēng)扇,所述排風(fēng)扇安裝于所述軌道的活動區(qū)域之外。
可選的,所述排風(fēng)扇為單個排風(fēng)扇或由多個排風(fēng)扇組成的排風(fēng)扇組。
可選的,所述排風(fēng)扇安裝在所述軌道活動區(qū)域之外的四周。
可選的,所述排風(fēng)扇安裝在所述軌道活動區(qū)域之外的一側(cè)或任意幾側(cè)。
可選的,所述軌道包括水平方向軌道和豎直方向軌道。
可選的,所述排風(fēng)扇安裝于所述水平方向軌道的外側(cè)。
本實用新型提供的探針臺在工作過程中,通過運轉(zhuǎn)的排風(fēng)扇將潤滑油蒸汽吹散,使其無法在空中因遇冷重新凝結(jié)為潤滑油滴,避免了重新凝結(jié)的潤滑油滴掉落在載晶盤所承載的晶片上,提高了探針卡對晶片進行性能測試的準確性,可使晶片的良率提高1%至2%。
附圖說明
圖1為現(xiàn)有技術(shù)的探針臺的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本實用新型的探針臺的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
為使本實用新型的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更加明顯易懂,下面結(jié)合附圖對本實用新型的具體實施方式做詳細的說明。
本實用新型所述的探針臺可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體集成電路的測試領(lǐng)域,并且可以利用多種替換方式實現(xiàn),下面是通過較佳的實施例來加以說明,當然本實用新型并不局限于該具體實施例,本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員所熟知的一般的替換無疑地涵蓋在本實用新型的保護范圍內(nèi)。
其次,本實用新型利用示意圖進行了詳細描述,在詳述本實用新型實施例時,為了便于說明,示意圖不依一般比例局部放大,不應(yīng)以此作為對本實用新型的限定。
請參閱圖2,圖2為本實用新型的探針臺的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示,該探針臺1內(nèi)包括:
探針卡6;
載晶盤5,用于承載晶片;
上下方向抬升機構(gòu)4,用于承載所述載晶盤5,并使所述載晶盤5在上下方向移動;
軌道,用于承載所述上下方向抬升機構(gòu)4和所述載晶盤5,并使所述上下方向抬升機構(gòu)4和所述載晶盤5在水平方向或豎直方向移動;
還包括排風(fēng)扇7,安裝于所述軌道的活動區(qū)域之外。
所述軌道包括水平方向軌道2和豎直方向軌道3。
所述排風(fēng)扇7可以為單個排風(fēng)扇,也可以為由多個排風(fēng)扇組成的排風(fēng)扇組。
所述排風(fēng)扇7可以安裝在所述軌道活動區(qū)域之外的四周,也可以只安裝在所述軌道活動區(qū)域之外的一側(cè)或任意幾側(cè)。
所述排風(fēng)扇7優(yōu)選安裝于所述水平方向軌道2的外側(cè)。當所述水平方向軌道2為多個軌道時,所述排風(fēng)扇7安裝在處于最外側(cè)的水平方向?qū)к?的外側(cè)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





