[實(shí)用新型]高頻短臂探針卡有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200920189167.1 | 申請(qǐng)日: | 2009-09-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN201522509U | 公開(公告)日: | 2010-07-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 殷嵐勇;周明;王景峰;吳彥 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 美博科技(蘇州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/073 | 分類號(hào): | G01R1/073 |
| 代理公司: | 蘇州創(chuàng)元專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 32103 | 代理人: | 孫仿衛(wèi) |
| 地址: | 215021 江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 高頻 探針 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種應(yīng)用于半導(dǎo)體晶元測(cè)試領(lǐng)域中的探針卡,特別是指一種高頻懸臂式的探針卡。
背景技術(shù)
探針卡是介于自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與半導(dǎo)體晶片之間,用于在封裝前測(cè)試半導(dǎo)體晶片功能參數(shù)的精密界面卡。
普通的懸臂式探針卡,如圖1所示,其包括有絕緣固定環(huán)1、多支探針2、絕緣粘著劑3及測(cè)試接點(diǎn)4,多支探針2通過絕緣粘著劑3固定在絕緣固定環(huán)1下面,多支探針2之間由介電材料包覆以相互隔離絕緣,每根探針2的一端通過測(cè)試接點(diǎn)4電氣連接于外部的測(cè)試機(jī)臺(tái),探針2的另一端則直接跟測(cè)試物電氣接觸。由于此種探針卡從測(cè)試物到測(cè)試接點(diǎn)的線路較長(zhǎng),而且沒有很好的地屏蔽,通常都是僅應(yīng)用于低頻范圍測(cè)試,在進(jìn)行高頻電子元件測(cè)試時(shí),傳輸信號(hào)的干擾和損耗都較大,且阻抗匹配特性較差,傳輸信號(hào)的完整性不佳。
目前業(yè)界也有采用同軸線做探針卡,用來測(cè)試高頻電子元件,以此來獲得較佳的傳輸信號(hào)和阻抗匹配特性。如圖2所示為同軸線的剖面圖,包括有內(nèi)部絕緣體5、外部絕緣體6、內(nèi)部導(dǎo)體7及外部導(dǎo)體8,但由于造價(jià)高且工藝復(fù)雜,無法廣泛使用。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述一般懸臂式探針卡中傳輸信號(hào)損耗大和阻抗匹配特性差的問題,本實(shí)用新型主要目的在于提供一種高頻短臂探針卡,其可確保高頻信號(hào)通過探針卡時(shí)的受外界干擾小、損耗小,保證了傳輸信號(hào)的完整性。
為達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:一種高頻短臂探針卡,它包括:
電路板,所述的電路板上布設(shè)有電子電路,并于該電路板的上表面上設(shè)有多個(gè)與測(cè)試機(jī)臺(tái)相電氣連接的測(cè)試接點(diǎn),而該電路板的下表面上設(shè)置有多個(gè)焊點(diǎn);
探針固定座,所述的探針固定座設(shè)置于所述的電路板的下表面上并用于接地,所述的探針固定座具有良好的導(dǎo)電性;
多根信號(hào)探針,所述的信號(hào)探針的一端部與待測(cè)物電氣接觸,另一端部焊接在所述的電路板上的焊點(diǎn)上;
多根接地探針,所述的接地探針的一端部與待測(cè)物電氣接觸,所述的接地探針和信號(hào)探針均包括針尖、大致沿水平方向延伸的探針臂、用于連接所述的探針固定座的固定部以及探針尾部,多根所述的接地探針的固定部和探針尾部均通過導(dǎo)電黏著劑固定在所述的探針固定座上,多根所述的信號(hào)探針的固定部通過絕緣粘結(jié)劑固定于所述的接地探針的下方,多根所述的信號(hào)探針形成一信號(hào)探針層,多根所述的接地探針形成附于所述的探針固定座表面的接地屏蔽層,并且所述的接地屏蔽層與所述的探針固定座共同構(gòu)成遮擋在所述的信號(hào)探針層外圍的接地屏蔽罩。
本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)是:本實(shí)用新型通過將信號(hào)探針與接地探針分置兩層,使多根接地探針形成接地屏蔽層,能夠防止來自于外界的信號(hào)對(duì)于信號(hào)探針傳輸內(nèi)容的影響,因此保證了高頻傳輸信號(hào)的完整性;并且,由于本實(shí)用新型減小了信號(hào)探針的整體長(zhǎng)度,使其串聯(lián)電感值小,在高頻測(cè)試時(shí)所產(chǎn)生的感抗低,傳輸信號(hào)的介入損耗小,故保證了較佳的傳輸信號(hào)完整性。
附圖說明
附圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的懸臂式探針卡的剖視圖;
附圖2為現(xiàn)有技術(shù)中采用同軸線屏蔽的信號(hào)探針的截面圖;
附圖3為本實(shí)用新型的高頻短臂探針卡的剖視圖;
附圖4為附圖3中A處的局部放大圖;
其中:
1???絕緣固定環(huán)???2???探針
3???絕緣粘著劑???4???測(cè)試接點(diǎn)
5???內(nèi)部絕緣體???6???外部絕緣體
7???內(nèi)部導(dǎo)體?????8???外部導(dǎo)體
10??電路板
11??測(cè)試接點(diǎn)?????12??信號(hào)探針
13??接地探針?????14??絕緣粘著劑
15??導(dǎo)電粘著劑???16??絕緣套管
17??焊點(diǎn)?????????18??探針固定座
101?上表面???????102?下表面
121?第一端???????122?第二端
123?探針臂???????124?探針尾部
125?固定部???????131?第一端
132?第二端???????133?探針臂
134?探針尾部?????135?固定部。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖3和附圖4對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行介紹,本說明書中所述的上下位置關(guān)系與附圖3中的上下位置關(guān)系相對(duì)應(yīng)。
附圖3為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)剖視圖,其揭示了一種高頻短臂探針卡,其可以普遍適用于信號(hào)頻率小于3GHz的半導(dǎo)體晶片測(cè)試,特別是信號(hào)頻率在2GHz至3GHz范圍內(nèi)的半導(dǎo)體晶片測(cè)試中性能表現(xiàn)優(yōu)異。具體地說,其包括:
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路





