[實用新型]層疊半導體測試插座有效
| 申請號： | 200920186422.7 | 申請日： | 2009-07-15 |
| 公開（公告）號： | CN201489025U | 公開（公告）日： | 2010-05-26 |
| 發明（設計）人： | 巴克特;楊曉勇;周家春;尹卡雷 | 申請（專利權）人： | 安拓銳高新測試技術(蘇州)有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/04 | 分類號： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 蘇州市新蘇專利事務所有限公司 32221 | 代理人： | 孫莘隆 |
| 地址： | 215021 江蘇省*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 層疊 半導體 測試 插座 | ||
【權利要求書】：
1.層疊半導體測試插座，包括由下測試座主體(1)，下測試座探針保持板(2)以及芯片浮動保持板(3)，測試探針(4)組成的下測試座，其特征在于：在下測試座的上部配置有上測試座組和回路測試座。
2.根據權利要求1所述的層疊半導體測試插座，其特征在于：所述的上測試座組由上測試插座和上印刷電路板(11)組成，上測試插座分為上測試插座主體(5)和探針保持板(6)，以及所保持的上測試探針(7)。
3.根據權利要求1所述的層疊半導體測試插座，其特征在于：所述的回路測試座包括能連接上下電路板上測試點的回路測試探針(10)，以及回路測試插座主體(8)和回路測試座探針保持板(9)。
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