[實(shí)用新型]高速粒子沖擊測(cè)試裝置無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200920142026.4 | 申請(qǐng)日: | 2009-03-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN201373801Y | 公開(公告)日: | 2009-12-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 毛志康 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 太倉(cāng)市璜涇鎮(zhèn)銳杰實(shí)驗(yàn)儀器制造廠 |
| 主分類號(hào): | G01M7/08 | 分類號(hào): | G01M7/08;G01N3/307 |
| 代理公司: | 蘇州創(chuàng)元專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人: | 孫仿衛(wèi) |
| 地址: | 215427*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 高速 粒子 沖擊 測(cè)試 裝置 | ||
1、一種高速粒子沖擊測(cè)試裝置,其特征在于:它包括壓力激發(fā)單元(1)、與所述的壓力激發(fā)單元(1)輸出端相氣連通的導(dǎo)程管(2)、直徑與所述的導(dǎo)程管(2)內(nèi)徑相適配用于在所述的導(dǎo)程管(2)內(nèi)經(jīng)所述的壓力激發(fā)單元(1)的壓力驅(qū)動(dòng)高速行進(jìn)的粒子(3),所述的導(dǎo)程管(2)靠近所述的壓力激發(fā)單元(1)的一端徑向開設(shè)有粒子裝入口(21),所述的壓力激發(fā)單元(1)包括空壓機(jī)(11)、氣體輸入口與所述空壓機(jī)(11)的氣體輸出口相連接的增壓泵(12),所述的增壓泵(12)將經(jīng)空壓機(jī)(11)壓縮后的氣體再升壓至設(shè)定壓力值后驅(qū)動(dòng)經(jīng)所述的粒子裝入口(11)裝入的粒子(3)在導(dǎo)程管(2)內(nèi)高速前進(jìn)以沖擊待測(cè)物品。
2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速粒子沖擊測(cè)試裝置,其特征在于:所述的增壓泵(12)輸出的氣體壓力值在30BAR以上。
3、根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的高速粒子沖擊測(cè)試裝置,其特征在于:在所述的增壓泵(12)與導(dǎo)程管(2)之間還氣連通一用于存儲(chǔ)高壓氣體的儲(chǔ)氣筒(13)以及控制儲(chǔ)氣筒(13)的高壓氣體向?qū)С坦?2)發(fā)送的發(fā)射電磁閥(14)。
4、根據(jù)權(quán)利要求3所述的高速粒子沖擊測(cè)試裝置,其特征在于:在所述的空壓機(jī)(11)與增壓泵(12)之間還連接有控制增壓的加壓電磁閥(15)。
5、根據(jù)權(quán)利要求4所述的高速粒子沖擊測(cè)試裝置,其特征在于:所述的測(cè)試裝置還包括用于測(cè)量?jī)?chǔ)氣筒(13)內(nèi)的氣體壓力是否達(dá)到設(shè)定值的測(cè)壓?jiǎn)卧?4),所述的測(cè)壓?jiǎn)卧?4)包括與儲(chǔ)氣筒(13)相連接的用于采樣增壓后的氣體壓力的壓力變送器(41)、與壓力變送器(41)輸出端相電連接用于將壓力變送器(41)輸出的模擬壓力值轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)的A/D轉(zhuǎn)換器(42)、與A/D轉(zhuǎn)換器(42)的輸出端相電連接用于計(jì)算壓力值的處理器(43)。
6、根據(jù)權(quán)利要求5所述的高速粒子沖擊測(cè)試裝置,其特征在于:所述的處理器(43)一輸出端與所述的發(fā)射電磁閥(14)相連接,所述的處理器(43)用于控制發(fā)射電磁閥(14)的開啟與關(guān)閉從而控制壓力激發(fā)單元(1)的激發(fā)時(shí)刻。
7、根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的高速粒子沖擊測(cè)試裝置,其特征在于:所述的處理器(43)還與所述的加壓電磁閥(15)相電連接,所述的處理器(43)控制所述的加壓電磁閥(15)的開啟與關(guān)閉從而調(diào)節(jié)增壓泵(12)的增壓大小。
8、根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速粒子沖擊測(cè)試裝置,其特征在于:所述的測(cè)量裝置還包括測(cè)速單元(5),所述的測(cè)速單元(5)包括設(shè)置在所述的導(dǎo)程管(2)的另一端且相距設(shè)定距離的兩對(duì)發(fā)光二極管(51)、與所述的發(fā)光二極管(51)光耦合并對(duì)接收信號(hào)進(jìn)行整形的整形電路(52)、與整形電路(52)輸出端相電連接的處理器(43),所述的處理器(43)根據(jù)接收的信號(hào)計(jì)算粒子的運(yùn)動(dòng)速度。
9、根據(jù)權(quán)利要求8所述的高速粒子沖擊測(cè)試裝置,其特征在于:所述的整形電路(52)由高速運(yùn)算放大器組成的電壓比較器并加入正反饋構(gòu)成的施密特觸發(fā)器組成。
10、根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速粒子沖擊測(cè)試裝置,其特征在于:所述的粒子(3)的直徑為6mm。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于太倉(cāng)市璜涇鎮(zhèn)銳杰實(shí)驗(yàn)儀器制造廠,未經(jīng)太倉(cāng)市璜涇鎮(zhèn)銳杰實(shí)驗(yàn)儀器制造廠許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200920142026.4/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





