[實用新型]電磁電器測試系統

無效

• 申請號: 200920138510.X
• 申請日: 2009-05-27
• 公開（公告）號: CN201503472U
• 公開（公告）日: 2010-06-09
• 發明（設計）人: 許志紅;蘇金州;鄭昕;林抒毅
• 申請（專利權）人: 福州大學
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 福州元創專利商標代理有限公司 35100
• 代理人: 蔡學俊

1.一種電磁電器測試系統，其特征在于：將主回路測試與電磁機構測試、電磁機構動態特性仿真相結合，該系統包括：

電壓互感器系統[L]、[M]、[N]及電壓信號調理模塊[J]，電壓互感器系統[L]的輸入端接入主電路線電壓信號，電壓互感器系統[M]的輸入端接入斷口電壓信號，電壓互感器系統[N]的輸入端接入電磁電器電磁機構線圈的電壓信號；電壓互感器系統[L]、[M]、[N]各自采集的電壓信號都進入電壓信號調理模塊[J]；

電流互感器系統[X]、[Y]及電流信號調理模塊[K]，電流互感器系統[X]的輸入端接入主電路電流信號，電流互感器系統[Y]的輸入端接入電磁機構的電流信號；電流互感器系統[X]、[Y]各自采集的電流信號都輸入電流信號調理模塊[K]；所述電壓信號調理模塊[J]和電流信號調理模塊[K]的輸出端與高速信號采集卡[A]連接；所述高速信號采集卡[A]的輸出端與測試程序模塊[C]的輸入端連接，所述測試程序模塊[C]的輸出端連接有綜合分析模塊[D]，所述綜合分析模塊[D]連接有仿真軟件數據庫[E]、管理設置模塊[H]、波形顯示模塊[G]及壽命預測模塊[S]。

2.根據權利要求1所述的電磁電器測試系統，其特征在于：所述管理設置模塊[H]包括波形顯示模塊[G]參數設置、壽命預測模塊[S]參數設置以及電壓互感器系統[L]、[M]、?[N]和電流互感器系統[X]、[Y]的測試范圍、測試精度設置。

?