[發明專利]熱量失效除錯系統及其溫度控制裝置無效
| 申請號: | 200910311785.3 | 申請日: | 2009-12-18 |
| 公開(公告)號: | CN102103172A | 公開(公告)日: | 2011-06-22 |
| 發明(設計)人: | 熊金良 | 申請(專利權)人: | 鴻富錦精密工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 熱量 失效 除錯 系統 及其 溫度 控制 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種熱量失效除錯系統及其溫度控制裝置。
背景技術
電子設備的壽命與電子元器件工作時的溫度密切相關。電子元器件的工作時溫度過高或過低都會影響電子設備的工作性能及可靠性。因此幾乎所有的電子設備特別是通訊設備都有一些高低溫測試。業界在低溫測試時最為常見的故障現象是低溫時不能被啟動。測試常用的做法是在常溫下用制冷劑逐一噴射被懷疑的電子元器件,直至出現故障為止。但是,這樣的做法不容易確定電子元器件在哪個溫度時產生熱量失效,且在常溫的條件下噴射制冷劑無法使整個待測電子設備置于低溫條件。
發明內容
鑒于以上內容,有必要提供一種熱量失效除錯系統,以使電子設備可在低溫條件下地進行熱量失效除錯,并可確定電子元器件在哪個溫度下產生熱量失效。
還有必要提供一種溫度控制裝置。
一種熱量失效除錯系統,用于對電子設備進行熱量失效除錯,所述熱量失效除錯系統包括一電壓源、一分壓電路、一放大電路、一用于設置在一該電子設備內待測電子元器件上的溫度產生器、一用于容置所述電子設備及所述溫度產生器的溫濕度測試柜及一與所述溫度產生器連接的溫度測試儀,所述分壓電路包括一電阻及一與所述電阻串聯連接在所述電壓源與地之間的可變電阻器,所述放大電路的輸入端連接在所述電阻與所述可變電阻器之間的節點上,所述放大電路的輸出端通過所述溫度產生器接地,通過改變所述可變電阻器的阻值可改變輸入至所述放大電路的電壓來改變所述放大電路輸出至所述溫度產生器的放大信號,從而改變所述溫度產生器產生的溫度,通過所述溫度測試儀顯示所述溫度產生器產生的溫度,在溫度產生器產生的不同溫度下啟動所述電子設備,在所述電子設備不能工作時判定待測電子元器件具有熱量失效功能。
一種溫度控制裝置,包括一電壓源、一分壓電路、一放大電路及一溫度產生器,所述分壓電路包括一電阻及一與所述電阻串聯連接在所述電壓源與地之間的可變電阻器,所述放大電路的輸入端連接在所述電阻與所述可變電阻器之間的節點上,所述放大電路的輸出端通過所述溫度產生器接地,所述溫度產生器用于置于一電子元器件上,通過改變所述可變電阻器的阻值可改變輸入至所述放大電路的電壓來改變所述放大電路輸出至所述溫度產生器的放大信號,從而改變所述溫度產生器產生的溫度,進而改變所述電子元器件的溫度。
所述熱量失效除錯系統通過改變所述可變電阻器的阻值改變輸入至所述放大電路的電壓來改變所述放大電路輸出至所述溫度產生器的放大信號,從而改變所述溫度產生器產生的溫度,進而改變所述電子元器件的溫度,在溫度產生器產生的不同溫度下啟動所述電子設備,在所述電子設備不能工作時判定待測電子元器件具有熱量失效功能,從而對所述電子設備進行熱量失效除錯。
附圖說明
下面結合附圖及較佳實施方式對本發明作進一步詳細描述:
圖1是本發明熱量失效除錯系統的較佳實施方式的框圖。
圖2是圖1中的溫度調節器的示意圖。
圖3是圖1的電路圖。
圖4是本發明熱量失效除錯系統的較佳實施方式在使用時的示意圖。
主要元件符號說明
具體實施方式
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