[發明專利]三維觀測系統均勻性分析方法

有效

• 申請號: 200910307343.1
• 申請日: 2009-09-19
• 公開（公告）號: CN102023310A
• 公開（公告）日: 2011-04-20
• 發明（設計）人: 周明非;碗學儉;沈萬杰;符力耘;吳樹奎;張松平;楊波;鄧會平;孫偉家
• 申請（專利權）人: 中國石油化工集團公司;中國石化集團中原石油勘探局地球物理勘探公司
• 主分類號: G01V1/28
• 分類號: G01V1/28;G01V1/30
• 代理公司: 鄭州睿信知識產權代理有限公司 41119
• 代理人: 韓天寶

1.一種三維觀測系統勻均性分析方法，通過計算覆蓋次數分布非均勻系數、炮檢距分布非均勻系數、方位角分布非均勻系數和炮檢覆蓋非均勻系數，從單個面元、多個面元兩個層面上，定性和定量的分析給定的三維觀測系統的覆蓋次數、炮檢距、方位角、炮檢覆蓋分布的均勻性，指導觀測系統設計，其特征在于包括以下步驟：

(1)由現有的觀測系統方案得到SPS數據；

(2)由SPS數據計算得到不同三維觀測系統地震采集滿覆蓋區內多個面元屬性數據，包括每一個面元內的覆蓋次數、炮檢距和方位角，并將炮檢距和方位角數據從大到小排序；

(3)分別計算覆蓋次數、方位角、炮檢距、炮檢覆蓋的非均勻系數；

(4)根據地震勘探目的將覆蓋次數、方位角分布、炮檢距、炮檢覆蓋非均勻系數權重排序優選觀測系統方案。

2.根據權利要求1所述的三維觀測系統勻均性分析方法，其特征在于覆蓋次數均勻性分析方法包括以下步驟：

(1)讀入SPS數據計算出各個面元內的覆蓋次數；

(2)計算覆蓋次數非均勻系數并對非均勻系數成圖；

計算公式如下：

σ2=1m-1Σi=2m(Ni-Ni-1-Δ)2]]>

其中N為各面元覆蓋次數；

Δ為理想覆蓋次數平均變化值，一般為零；

m為計算區域范圍內的面元個數；

(3)將不同地震采集三維觀測系統多個面元(指定區域)覆蓋次數非均勻系數圖件和覆蓋次數非均勻系數值進行比較，優選其中：覆蓋次數非均勻系數值最小的方案(理想值為0)。

3.根據權利要求1或2所述的三維觀測系統勻均性分析方法，其特征在于炮檢距均勻性分析方法如下：

(1)由SPS數據計算得到不同三維觀測系統地震采集滿覆蓋區內多個面元炮檢距數據，將每一個面元的炮檢距數據從大到小排序；

(2)將每一個面元內炮檢距按最小炮檢距和最大炮檢距等間隔分成N-1段，每一段為式中Xmin為最小炮檢距，Xmax為最大炮檢距，N為覆蓋次數；

(3)運用統計均方差公式計算出每一個面元內的炮檢距分布非均勻系數并成圖。公式如下所示：

式中，N為覆蓋次數，Xi表示炮檢距第i道炮檢距。一般情況下σ²≥0，σ²越小，炮檢距分布就越均勻，在上面所述最為理想的情況下σ²＝0；

統計所有面元的炮檢距的非均勻系數σ，再計算出整個滿覆蓋區域炮檢距非均勻系數的均值

將不同地震采集三維觀測系統滿覆蓋區域(指定區域)炮檢距非均勻系數圖件和均值進行比較，優選其中：

對觀測系統單個面元分析優選其中炮檢距分布非均勻系數值σ最小的方案(理想值為0)；

對觀測系統多個面元(滿覆蓋區)分析優選其中炮檢距分布非均勻系數值最小的為最優。