[發(fā)明專利]電子羅盤測試系統(tǒng)及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910301020.1
• 申請日: 2009-03-21
• 公開（公告）號: CN101839716A
• 公開（公告）日: 2010-09-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 莊宗仁
• 申請（專利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G01C17/38
• 分類號: G01C17/38
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種電子羅盤測試系統(tǒng)，其包括一計(jì)算模塊、驅(qū)動(dòng)模塊、電磁鐵及磁屏蔽裝置，所述計(jì)算模塊、驅(qū)動(dòng)模塊及電磁鐵設(shè)置于所述磁屏蔽裝置內(nèi)，所述驅(qū)動(dòng)模塊與所述計(jì)算模塊及所述電磁鐵電連接，驅(qū)動(dòng)所述電磁鐵繞一待測電子羅盤移動(dòng)，所述計(jì)算模塊與所述驅(qū)動(dòng)模塊及所述待測電子羅盤電連接，所述計(jì)算模塊通過所述驅(qū)動(dòng)模塊獲取所述電磁鐵實(shí)際移動(dòng)位置，并通過所述待測電子羅盤獲取偵測的電磁鐵的位置，計(jì)算電磁鐵實(shí)際移動(dòng)位置與偵測位置之間的位置偏移誤差值，顯示位置偏移誤差值。

2.如權(quán)利要求1所述的電子羅盤測試系統(tǒng)，其特征在于，所述磁屏蔽裝置為一磁屏蔽罩，使用鋁制材料外殼。

3.如權(quán)利要求1所述的電子羅盤測試系統(tǒng)，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)模塊為步進(jìn)馬達(dá)。

4.如權(quán)利要求1所述的電子羅盤測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電子羅盤測試系統(tǒng)還包括一電壓控制模塊，所述電壓控制模塊與所述電磁鐵電連接，控制改變所述電磁鐵兩端電壓。

5.如權(quán)利要求4所述的電子羅盤測試系統(tǒng)，其特征在于，所述計(jì)算模塊包括獲取單元、處理單元及顯示單元，所述獲取單元與所述驅(qū)動(dòng)模塊，電壓控制模塊以及所述待測電子羅盤電連接，獲取所述電磁鐵所移動(dòng)的實(shí)際位置、所述電磁鐵兩端電壓以及所述待測電子羅盤偵測的電磁鐵的位置及磁場強(qiáng)度，所述處理單元計(jì)算所述電磁鐵實(shí)際移動(dòng)位置與偵測位置之間的位置偏移誤差值，計(jì)算所述電磁鐵的磁場強(qiáng)度，并計(jì)算實(shí)際電磁鐵磁場強(qiáng)度與偵測的電磁鐵磁場強(qiáng)度之間的誤差，所述顯示單元用于顯示電磁鐵位置偏移誤差值及磁場強(qiáng)度之間誤差。

6.一種電子羅盤測試方法，其包括一磁屏蔽裝置及一電磁鐵，所述電磁鐵設(shè)置于所述磁屏蔽裝置中，所述電子羅盤測試方法包括以下幾個(gè)步驟：

將待測電子羅盤放置于磁屏蔽裝置中；

控制改變電磁鐵位置；

獲取電磁鐵實(shí)際位置及所述待測電子羅盤偵測的電磁鐵位置；

計(jì)算電磁鐵實(shí)際位置與所述待測電子羅盤偵測的電磁鐵位置之間的位置偏移誤差值；及

顯示電磁鐵位置偏移誤差值。

7.如權(quán)利要求6所述的電子羅盤測試方法，其特征在于，所述控制改變電磁鐵位置方法中還包括控制改變電磁鐵磁場強(qiáng)度。

8.如權(quán)利要求7所述的電子羅盤測試方法，其特征在于，所述獲取電磁鐵實(shí)際位置及所述待測電子羅盤偵測的電磁鐵位置方法中還包括獲取電磁鐵實(shí)際磁場強(qiáng)度及所述待測電子羅盤偵測的磁場強(qiáng)度。

9.如權(quán)利要求8所述的電子羅盤測試方法，其特征在于，所述計(jì)算電磁鐵實(shí)際位置與所述待測電子羅盤偵測的電磁鐵位置之間的位置偏移誤差值方法中還包括計(jì)算電磁鐵實(shí)際磁場強(qiáng)度與所述待測電子羅盤偵測磁場強(qiáng)度之間的誤差。

10.如權(quán)利要求9所述的電子羅盤測試方法，其特征在于，所述顯示電磁鐵位置偏移誤差值方法中還包括顯示磁場強(qiáng)度之間誤差。